[发明专利]半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法有效
| 申请号： | 201610110814.X | 申请日： | 2016-02-29 |
| 公开（公告）号： | CN105784330B | 公开（公告）日： | 2018-06-29 |
| 发明（设计）人： | 曹军胜;高志坚;尹红贺 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙) 22210 | 代理人： | 刘慧宇 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 巴条 微控制器系统 线阵CCD 发光点 半导体激光器 程控电流源 一致性检测仪 光学透镜 探针台 电极 检测 检测技术领域 读取 输出端连接 光电特性 扫描电流 样本计算 一维导轨 激光器 均匀性 一次线 方差 探针 成像 饱和 采集 驱动 | ||
【权利要求书】：
1.半导体激光器巴条单元一致性检测仪的检测方法，其特征是，包括以下步骤：
步骤一，将探针台(1)、光学透镜(2)和线阵CCD(3)均安装于一维导轨(6)上；线阵CCD(3)和程控电流源(5)均与微控制器系统(4)连接；被测巴条(7)安装于探针台(1)上，程控电流源(5)的输出端连接探针台(1)的电极，电极与被测巴条(7)连接；
步骤二，微控制器系统(4)控制程控电流源(5)产生步进扫描电流用于驱动被测巴条(7)，被测巴条(7)的各发光点经过光学透镜(2)成像于线阵CCD(3)，微控制器系统(4)通过线阵CCD(3)采集被测巴条(7)各发光点的亮度峰值，扫描电流每增大一步，微控制器系统(4)就读取一次线阵CCD(3)，直至有发光点的亮度峰值达到线阵CCD(3)的饱和值为止；
步骤三，微控制器系统(4)以步骤二中被测巴条(7)各发光点的亮度为样本计算其方差，作为评价被测巴条(7)各单元一致性的指标，方差越大说明一致性越差，方差越小则说明一致性越好；设被测巴条(7)有n个发光点，所测各发光点的亮度值分别为x1、x2、...、xn，则方差s2的计算公式为：
其中，
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