[发明专利]一种荧光成相定位定量分析系统在审
| 申请号： | 201610120373.1 | 申请日： | 2016-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN107152990A | 公开（公告）日： | 2017-09-12 |
| 发明（设计）人： | 周列;李双本 | 申请（专利权）人： | 上海境业环保能源科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M3/20 | 分类号： | G01M3/20 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙)31251 | 代理人： | 王法男 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 定位 定量分析 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种荧光成相定位定量分析系统，其特征在于：荧光粉储罐内装有荧光粉，储罐有0.1～0.4Mpa压力，当电控阀门开启时，可将荧光粉均匀雾化，从含尘气体入口与含尘气体一起进入箱体。
2.如权利要求1所述的一种荧光成相定位定量分析系统，其特征在于：荧光粉颜色为红色，粒径为1～10μm，荧光粉在紫外光照射下会发出耀眼的红色光芒。
3.如权利要求1所述的一种荧光成相定位定量分析系统，其特征在于：防爆摄像机采用工业用摄像机，耐温300摄氏度以上，防粉尘，130万以上像素，固定在清洁室顶部，布置数量需保证覆盖整个花板面。
4.如权利要求1所述的一种荧光成相定位定量分析系统，其特征在于：漏点位置判断：当有漏点时，摄像头能清晰捕捉到荧光粉流线。
5.如权利要求1所述的一种荧光成相定位定量分析系统，其特征在于：定量分析：通过影像可测量漏点尺寸，确定漏点面积S，荧光从出现点A运动至B，通过距离与时间关系，可确定流速V，由此得出泄漏量Q＝S*V。
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