[发明专利]具有气体颗粒物发生装置的气体颗粒物量测系统和量测方法有效

专利信息
申请号: 201610120381.6 申请日: 2016-03-03
公开(公告)号: CN105675453B 公开(公告)日: 2019-05-24
发明(设计)人: 宾泽明;杨希;杨立君;邱致刚;梁鸿 申请(专利权)人: 中兴仪器(深圳)有限公司
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 深圳市舜立知识产权代理事务所(普通合伙) 44335 代理人: 李亚萍
地址: 518101 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 具有 气体 颗粒 发生 装置 物量测 系统
【权利要求书】:

1.一种气体颗粒物量测系统,其特征在于包括气体颗粒物发生装置和与所述气体颗粒物发生装置连接的颗粒物量测装置,所述气体颗粒物发生装置包括:

气体颗粒物排列管道,包括:

气体颗粒物入口;

气体颗粒物出口,连接所述颗粒物量测装置;及

气体颗粒物通道,连接所述气体颗粒物入口和所述气体颗粒物出口,其内径沿由所述气体颗粒物入口向所述气体颗粒物出口方向减小,所述气体颗粒物通道包括第一气体颗粒物通道、第二气体颗粒物通道及第三气体颗粒物通道,所述第二气体颗粒物通道连接所述第一气体颗粒物通道和所述第三气体颗粒物通道,所述第二气体颗粒物通道的最大内径与所述第一气体颗粒物通道的内径相同,所述第二气体颗粒物通道的最小内径与所述第三气体颗粒物通道的内径相同,所述第一气体颗粒物通道的内径不大于0.8mm,所述第三气体颗粒物通道的内径不大于0.3mm,所述气体颗粒物通道用于使需要被量测的气体颗粒物单颗依次进入所述颗粒物量测装置;及

加热机构,用于加热所述气体颗粒物排列管道而加热需要被量测的气体颗粒物。

2.如权利要求1所述的气体颗粒物量测系统,其特征在于:所述第二气体颗粒物通道的内径由所述第一气体颗粒通道向所述第三气体颗粒物通道的方向逐渐减小。

3.如权利要求2所述的气体颗粒物量测系统,其特征在于:所述第一气体颗粒物通道的内径大小沿由所述气体颗粒物入口向所述第二气体颗粒物通道的方向相同。

4.如权利要求2所述的气体颗粒物量测系统,其特征在于:所述第三气体颗粒物通道的内径大小沿由所述第二气体颗粒物通道向所述气体颗粒物出口的方向相同。

5.如权利要求4所述的气体颗粒物量测系统,其特征在于:所述第一气体颗粒物通道的长度分别小于第二气体颗粒物通道的长度及所述第三气体颗粒物通道的长度,所述第二气体颗粒物通道的长度与所述第三气体颗粒物通道的长度相当。

6.如权利要求1-5任一项所述的气体颗粒物量测系统,其特征在于:所述加热机构旋绕所述气体颗粒物排列管道。

7.如权利要求1-5任一项所述的气体颗粒物量测系统,其特征在于:还包括一用于将需要被量测的气体颗粒物分离出来的分离装置,所述分离装置包括用于提供分离动力的采样泵、将包含需要被量测的气体颗粒物的气体喷出的喷嘴、与所述气体颗粒物入口连接而将被需要量测的气体颗粒物导入所述气体颗粒物排列管道的气体出口。

8.一种气体颗粒物量测方法,其特征在于,使用如权利要求1-6任一项所述的气体颗粒物量测系统,所述方法包括:

将位于分离装置附近的气体及气体中包含的颗粒物抽入所述分离装置,粒径小于所述分离装置的切割粒径的气体颗粒物进入所述气体颗粒物排列管道;

所述加热机构加热所述气体颗粒物排列管道;

需要被量测的气体颗粒物通过所述气体颗粒物入口依次进入所述气体颗粒物排列管道的第一气体颗粒物通道、第二气体颗粒物通道及第三气体颗粒物通道而呈单颗粒排列;

需要被量测的气体颗粒物通过所述气体颗粒物出口由所述第三气体颗粒物通道依次单颗进入所述颗粒物量测装置。

9.如权利要求8所述的气体颗粒物量测方法,其特征在于:所述气体颗粒物量测系统还包括与所述气体颗粒物发生装置连接的分离装置,所述分离装置将气体颗粒物按照粒径大小进行分离而分离出需要被量测的气体颗粒物。

10.如权利要求8所述的气体颗粒物量测方法,其特征在于:所述气体颗粒物量测系统还包括与所述气体颗粒物发生装置和所述颗粒物量测装置连通的动力装置,所述动力装置将通过所述颗粒物量测装置测量完成的气体颗粒物排出所述颗粒物量测装置。

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