[发明专利]一种断路器失效概率评估方法

权利要求书

1.一种断路器失效概率评估方法，其特征在于，所述方法包括：

统计断路器使用时间以及出现故障的概率，记作(t₁,λ₁),(t₂,λ₂),…,(t_n,λ_n)，其中,t 为断路器累计使用的时间，λ为断路器出现故障的概率，n为断路器缺陷数据总数；

基于威布尔分布建立断路器失效概率函数，记作其中，η为尺度参数，β 为形状参数；

利用Marquardt法对所述断路器失效概率函数的参数进行估计，获得断路器失效概率 的分布曲线函数；

通过所述分布曲线函数对断路器全寿命周期的失效概率进行评估，得到断路器寿命浴 盆曲线。

2.根据权利要求1所述的断路器失效概率评估方法，其特征在于，所述方法还包括：

统计所述断路器发生故障的各种影响因素，将所述断路器发生故障的时间分为早期失 效期、偶然失效期及损耗失效期。

3.根据权利要求1所述的断路器失效概率评估方法，其特征在于，所述利用Marquardt 法对所述断路器失效概率函数的参数进行估计，获得断路器失效概率的分布曲线函数,具 体为，记a(η,β),将所述断路器失效概率函数分别对参数β，η求偏导，

∂λ(ti)∂β=1η(tiη)β-1+βη(tiη)β-1ln(tiη),∂λ(ti)∂η=-βη2(tiη)β-1-βη2(tiη)β-1(β-1);]]>

选取(t₁,λ₁),(t₂,λ₂),…,(t_n,λ_n)中任意两个数据点(t_d,λ(t_d))和(t_g,λ(t_g))，构建方程 组

βη(tdη)β-1=λ(td)βη(tgη)β-1=λ(tg),]]>求得a⁽⁰⁾＝(β⁽⁰⁾,η⁽⁰⁾)，

h11=Σi=1n[1η2(tiη)2(β-1)+2βη2(tiη)2(β-1)·ln(tiη)+β2η2(tiη)2(β-1)·ln2ln(tiη)]|a=a(0)]]>

h12=Σi=1n[-βη3(tiη)2(β-1)-βη3(tiη)2(β-1)·(β-1)-βη3(tiη)2(β-1)·ln(tiη)]|a=a(0)]]>

h₂₁＝h₁₂

h22=Σi=1n[β2η4(tiη)2(β-1)+2β2η4(tiη)2(β-1)·(β-1)+β2η4(tiη)2(β-1)·(β-1)2]|a=a(0)]]>

h1y=Σi=1n[(yi-βη(tiη)(β-1))·∂(ti)∂β]|a=a(0)]]>

h2y=Σi=1n[(yi-βη(tiη)(β-1))·∂(ti)∂η]|a=a(0),]]>记d＝d₀＝0.01h₁₁，可求得a值为

a=βη=β(0)η(0)+h11+d(0)d12d21d22+d(0)·h1yh2y.]]>