[发明专利]特征点检测方法及装置、图像处理系统和监视系统有效

专利信息
申请号: 201610127580.X 申请日: 2016-03-07
公开(公告)号: CN107169397B 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 赵东悦;黄耀海;李献 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00
代理公司: 北京怡丰知识产权代理有限公司 11293 代理人: 迟军
地址: 日本东京都*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 特征 检测 方法 装置 图像 处理 系统 监视
【权利要求书】:

1.一种特征点检测方法,所述特征点检测方法包括:

获取步骤,获取输入图像中的脸部区域;

特征点获取步骤,根据预生成的第一模型获取所述脸部的对应组件中的第一特征点的第一位置和第二特征点的第一位置,其中,所述组件中的至少一者包括所述第一特征点,所述第一特征点是所述对应组件中的特征变化的平均偏差小于第一阈值的特征点;

第一估计步骤,根据所述第一特征点的第一位置和至少一个预生成的第二模型,来估计所述对应组件中的所述第一特征点的第二位置;以及

更新步骤,根据所述第一特征点的第二位置、所述第二特征点的第一位置以及至少一个预生成的第三模型,来将所述第一特征点的第一位置和所述第二特征点的第一位置更新为所述对应组件中的所述第一特征点的第三位置和所述第二特征点的第三位置,其中,

所述脸部的组件包括所述脸部的部位,以及

属于所述脸部的各个部位的所述第一特征点的第三位置和所述第二特征点的第三位置指示所述部位的形状。

2.根据权利要求1所述的特征点检测方法,其中,所述特征点检测方法还包括:

第二估计步骤,根据所述第二特征点的第一位置、所述第一特征点的第一位置以及所述第一特征点的第二位置,来估计所述对应组件中的所述第二特征点的第二位置;

其中,所述更新步骤根据所述第一特征点的第二位置、所述第二特征点的第二位置以及所述至少一个预生成的第三模型,来检测所述对应组件中的所述第一特征点的第三位置和所述第二特征点的第三位置。

3.根据权利要求2所述的特征点检测方法,其中,所述预生成的第一模型包括所述对应组件中的所述第一特征点和所述第二特征点之间的形状曲线、所述组件之间的位置关系以及在所述对应组件中标出所述第一特征点和所述第二特征点的脸部的平均形状。

4.根据权利要求3所述的特征点检测方法,其中,所述第二估计步骤包括:

第三估计步骤,针对在包括所述第一特征点的一个组件中的第二特征点,基于在包括所述第一特征点的所述组件中的第一特征点和第二特征点之间的形状曲线,来估计该第二特征点的第二位置;以及

第四估计步骤,针对不包括所述第一特征点的一个组件中的第二特征点,基于不包括所述第一特征点的所述组件与包括所述第一特征点的对应组件之间的位置关系,来估计该第二特征点的第二位置。

5.根据权利要求4所述的特征点检测方法,其中,所述第三估计步骤包括:

根据包括所述第一特征点的所述组件中的所述第一特征点的第一位置,来计算所述第一特征点的第一中心位置;

根据包括所述第一特征点的所述组件中的所述第一特征点的第二位置,来计算所述第一特征点的第二中心位置;

计算所述第一中心位置与所述第二中心位置之间的第一坐标差;以及

根据所述第一坐标差,来移动所述第二特征点的第一位置。

6.根据权利要求4所述的特征点检测方法,其中,所述第三估计步骤包括:

从所述预生成的第一模型,获取包括所述第一特征点的所述组件中的所述第一特征点和所述第二特征点之间的形状曲线;

根据在包括所述第一特征点的所述组件中的所述第一特征点的所述第二位置,来调节所述形状曲线;以及

通过以等长度的方式划分所调节的形状曲线,来确定所述第二特征点的第二位置。

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