[发明专利]一种氧化物‑金属多层膜背接触晶体硅太阳电池及其制备方法有效
申请号: | 201610127971.1 | 申请日: | 2016-03-07 |
公开(公告)号: | CN105789342B | 公开(公告)日: | 2018-01-23 |
发明(设计)人: | 沈辉;包杰;吴伟梁;刘宗涛 | 申请(专利权)人: | 中山大学 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/0216;H01L31/18 |
代理公司: | 广州知友专利商标代理有限公司44104 | 代理人: | 李海波,刘艳丽 |
地址: | 510275 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氧化物 金属 多层 接触 晶体 太阳电池 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明属于太阳电池技术领域,具体涉及一种氧化物-金属多层膜背接触晶体硅太阳电池及其制备方法。
背景技术
太阳电池最常见的结构类型是无机材料体系的p-n结类型,根据材料异同可分为同质结与异质结。异质结太阳电池可以避免高温扩散过程,在低温下制备薄膜与硅衬底形成p-n结。目前商业化的硅基异质结太阳电池主要包括a-Si:H/c-Si异质结太阳电池(Heterojunction with intrinsic Thin layer,HIT)和叉指结构硅基异质结(Interdigitated back contact silicon heterojunction,IBC-SHJ)太阳电池。
IBC-SHJ太阳电池前表面采用较大带系的半导体材料作为减反膜和钝化膜,以减少光的反射和寄生性吸收,因此比HIT太阳电池具有更高的电流密度。但是IBC-SHJ太阳电池目前存在以下问题:一、设备昂贵,并且原材料硅烷属于易燃易爆的化学物品。二、需要复杂的掩膜和精准的对位技术,例如:光刻、激光刻蚀等,防止电池发射极与基区连接造成电池短路。三、需要使用ITO等透明导电薄膜和低温银浆,成本高,难以进行大量生产。因此探索新材料、新结构、新制备工艺,简化工艺步骤、降低对设备的要求及适合大规模生产,获得高效率的新型异质结太阳电池,具有重要的意义。
近些年WO3,NiO,V2O5等过渡金属氧化物材料,由于功函数高、带隙宽、光的寄生性吸收小等优点被广泛的应用于光电子器件中,如:有机发光二极管(OLED)、有机太阳电池(OPV)。然而,过渡金属氧化物属于绝缘材料,电阻率较高。为了改善薄膜的电学特性,并且能够低温制备,可以通过在氧化物薄膜中插入一层金属层来实现,形成氧化物/金属/氧化物多层膜结构,例如WO3/Ag/WO3、NiO/Ag/NiO、V2O5/Ag/V2O5等。这种多层膜的结构具有如下特点:一、拥有较低的表面方块电阻;二、优异的光学性能,氧化物/金属/氧化物复合结构的薄膜通过金属层和氧化物层之间的等离子体耦合作用,增加了在可见光范围的透过率,能够有效地阻止金属层的反射;三、较高的功函数。
专利CN 104916709A中,将金属多层膜与硅材料结合起来,在沉积有钝化层的硅片正面沉积氧化物/金属/氧化物多层膜,制备具有前结的氧化物-金属多层膜/硅基太阳电池。但是前结的氧化物-金属多层膜/硅基太阳电池具有以下缺点:(1)电池的发射极中含有一层金属膜,由于金属膜对光的反射和吸收,会极大地降低电池的光生电流;(2)前表面的金属电极和发射极仅部分接触(~8%),串联电阻大,填充因子较低。
发明内容
本发明所要解决的第一个技术问题是提供一种氧化物-金属多层膜背接触晶体硅太阳电池,该太阳电池将氧化物-金属多层膜作为发射极并设置于晶体硅片的背面,效率高,可以避免传统的热扩散、离子注入或者等离子体增强型化学气相沉积(PECVD)制备非晶硅作为发射极引起的寄生性吸收、俄歇复合和“死层”等问题。
本发明所要解决的第二个技术问题是提供上述氧化物-金属多层膜背接触晶体硅太阳电池的制备工艺,该方法制作工序少,整个制备过程无需高温,适合大规模生产。
本发明的第一个技术问题是通过以下技术方案来实现的:一种氧化物-金属多层膜背接触晶体硅太阳电池,包括晶体硅片,所述晶体硅片的前表面和背表面设有钝化层,所述背表面钝化层上设有发射极、发射极金属电极和基区金属电极,所述发射极由第一氧化物薄膜、金属薄膜和第二氧化物薄膜组成;其中第一氧化物薄膜或第二氧化物薄膜为WO3薄膜、NiO薄膜或V2O5薄膜,所述金属薄膜为Ag薄膜、Au薄膜、Pd薄膜、Cu薄膜、Ni薄膜、Mo薄膜、W薄膜或Al薄膜。
本发明通过将氧化物-金属多层膜作为发射极,与硅片或者硅薄膜结合形成氧化物-金属多层膜硅基背面接触太阳电池,电池的光吸收层主要是硅,电池前表明无金属栅线遮挡,氧化物-金属多层膜具有较高的功函数能够诱导硅表面能带弯曲产生空间电荷区、载流子收集与传输的作用,整个制备工艺处于低温的状态,设备简单,成本较低,环境友好。
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的