[发明专利]光学传感式三维高精度接触扫描测量探头

说明书

技术领域

本发明涉及微纳米测试领域，更具体的说是一种应用在纳米三坐标测量机上的接触扫描式三维探头，可以感测物体表面的三维形貌。

背景技术

近年来，微电子技术的快速发展引发了一场微小型化的革命，尤其是微机电系统MEMS器件的加工技术的发展，出现了各种微纳米级的微小器件，如微齿轮、微型孔，微型喷嘴，微型台阶等MEMS产品。这些微器件的加工精度处于微纳米量级，要对这些微器件进行精密测量，就要发展特殊的高精度检测方法与技术手段。为此各国相关机构都致力于研究具有纳米级精度的三坐标测量机。

三坐标测量机的探头部分是三坐标测量机的核心部件之一，探头的测量精度决定三坐标测量机的总体测量精度。探头有接触式和非接触式之分，接触式探头可以用来测量非接触式探头所不能测量的具有斜面、台阶、深孔、圆弧等特征的工件。

现有技术中的接触式探头主要有：原子力探头、电容式探头、光纤探头、DVD探头、微触觉探头、共焦式探头等。现有探头需要集成二至四个高精度传感器，存在着结构复杂、装调难度大、成本高的问题。比如荷兰Eindhoven大学开发的基于应变计的三维微接触式传感测头，是将应变计、电路以及弹性元件通过沉淀、制版、刻蚀等工艺后共同制作成整体结构，测头各个方向的力和位移的变化通过装在敏感粱上的应变计进行检测，其体积较小，但应变片的检测灵敏度和精度都比较低，并且其测头采用三角形拓扑结构，解耦复杂。瑞士联邦计量检定局METAS开发的电磁式微接触式测头，测头具有三个方向的自由度，每个方向的检测都采用电感来实现，三个方向的测力相同，结构主要由铝制成，电磁式测头的测量范围较大，横向检测灵敏度较高且接触力较小，但其结构相当复杂、装调困难，且采用三角形悬挂结构，解耦复杂。

发明内容

本发明是为避免上述现有技术所存在的不足之处，提供一种光学传感式三维高精度接触扫描测量探头，以期获得高精度、高灵敏度和小测力的探测效果，同时具备高稳定性和调试方便的优势。

本发明为解决技术问题采用如下技术方案：

本发明光学传感式三维高精度接触扫描测量探头的结构特点是其包括：

一测头单元，是在圆环座的中央设置十字悬浮片，所述十字悬浮片的各悬臂端固定连接对应位置上的“V”型悬臂簧片的顶端，所述“V”型悬臂簧片的两个底端固定连接在圆环座上，形成十字悬浮片在圆环座中的悬浮结构；在所述十字悬浮片的上表面、处在十字悬浮片的中央固定设置楔形块，在所述楔形块的顶面粘结有NPBS，在所述楔形块的底面镀有反射层，在所述十字悬浮片的下表面、处在十字悬浮片的中央固定连接带有测球的探针；

一测量单元，设置所述测量单元的光路结构为：激光器发射出的准直光投射至NPBS的顶面，所述准直光在NPBS中形成的反射光作为第一光束投射至第一四象限探测器，以所述第一四象限探测器测量楔形块和NPBS沿水平X轴方向的位移；所述准直光在NPBS中形成的透射光经楔形块投射至楔形块的底面的反射层，在所述反射层上形成的反射光作为第二光束，所述第二光束投射至NPBS的底面，所述第二束光在NPBS中形成的反射光作为第三束光投射到第二四象限探测器，以所述第二四象限探测器测量楔形块和NPBS沿Z轴方向的位移；所述第二束光在NPBS中形成的透射光投射至第三四象限探测器，以所述第三四象限探测器测量楔形块和NPBS沿Y轴方向的位移，所述Z轴为竖直方向的轴，所述Y轴和X轴为水平方向的轴。

本发明光学传感式三维高精度接触扫描测量探头的结构特点也在于：设置所述测量探头的基座为圆筒体，在所述圆筒体中分布有各空腔，所述各空腔分别是：处在圆筒体上段的第一腔、处在圆筒体下段的第三腔，以及处在第一腔和第三腔之间的第二腔；用于安装激光器的激光器固定座设置在所述第一腔中；所述第三四象限探测器安装在所述第二腔中；第一四象限探测器、第二四象限探测器以及NPBS安装在所述第三腔中，并且所述第一四象限探测器和第二四象限探测器分处在所述NPBS的一左一右；测头单元中的圆环座固定设置在所述圆筒体的底部端口上。

本发明光学传感式三维高精度接触扫描测量探头的结构特点也在于：所述第二空腔设置为台阶孔，所述第三四象限探测器嵌装在所述台阶台中获得限位；在所述三四象限探测器的顶部放置楔形填充块，所述楔形填充块的顶面与第一腔的底板上表面平齐，激光器固定座固定设置在第一腔的底面，利用所述激光器固定座对所述楔形填充块在顶面形成抵压，阻止所述第三四象限探测器向上移动。