[发明专利]射频时隙功率检测方法和射频时隙功率检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及功率检测技术领域，尤其是涉及一种射频时隙功率检测方法和射频时隙功率检测装置。

背景技术

目前，由于时分同步码分多址技术(Time Division-Synchronous Code Division Multiple Access，简称TD-SCDMA)、分时长期演进(Time Division Long Term Evolution，简称TD-LTE)系统的频谱利用率高，其上下行非对称传输的方式，正在得到越来越多的应用，因此TD-SCDMA、TD-LTE的通信基站分布越来越密集。为避免通信系统内的干扰和基站自身的干扰，保证非对称的发射和接收，基站发射机功率测试的要求也越来越高。为实现精准的发射机功率测试就必须对各时隙功率进行准确的检测。

现有的一种检测方法是利用高精度授时全球定位系统(Global Positioning System，简称GPS)提供的秒脉冲(1Pulse Per Second，简称1PPS)功能获取时隙功率采样的同步信号，然后通过准确计时提取各个时隙的功率。该方法具有成本高，且受GPS信号的影响在建筑物密集区时常发生失真情况。

如图1所示，现有的另一种检测方法是利用射频包络检波电路对基站下行射频信号进行检波，得到检波后的电压信号，然后利用比较电路将检波后的电压信号与固定的参考电压信号进行比较，将比较结果送入波形分析器。波形分析器根据比较结果可以确定能否对下行射频信号进行正确识别，如果能正确识别，再进行后续的波形分析、校准、提取各时隙功率等步骤。其中，射频包络检波电路一般采用AD8313，比较电路采用LM2901，固定的参考电压信号由LP2951生成。 而且，在比较之前一般采用MAX4326对信号进行一定的放大。当下行射频信号在一定范围内变化时，检波后的电压信号和参考电压信号V0的大小关系如图2所示。但是由于该方法采用的是固定的参考电压信号，因此有可能出现由于下行射频信号的功率升高使检波后的电压信号完全在参考电压信号之上或由于下行射频信号的功率降低使检波后的电压信号完全在参考电压信号之下的情况。图3为下行射频信号的功率升高后检波后的电压信号在参考电压信号V0之上的情况，图4为下行射频信号的功率升高后检波后的电压信号在参考电压信号V0之下的情况。可见，该方法虽然成本低，但是受制于下行射频信号功率的变化范围，即检测范围有限，因此检测性能较差。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是如何在低成本的基础上扩大射频时隙功率的检测范围。

为解决上述技术问题，本发明提出了一种射频时隙功率检测方法和射频时隙功率检测装置。

第一方面，本发明提供的射频时隙功率检测方法包括：

判断基站的下行射频信号能否被识别；

若能被识别，则对本地时钟源进行校准，使本地时钟源和基站同步；

在校准完成后提取所述下行射频信号在各个时隙的功率；

其中，

所述判断基站的下行射频信号能否被识别，包括：

对所述下行射频信号进行包络检波，得到第一电压信号；

根据所述第一电压信号，动态生成与所述下行射频信号的功率大小成正比例关系的参考电压信号；

将所述第一电压信号与所述参考电压信号进行比较，得到比较结果，并根据所述比较结果，确定所述下行射频信号能否被识别。

可选的，所述本地时钟源进行校准，包括：

分析所述第一电压信号的时域变化特征；

判断所述第一电压信号的时域变化特征和预先确定的基准时隙的时域变化特征是否一致，

若是，则根据所述基准时隙在子帧结构中的位置，确定基站的当前时序，并根据基站的当前时序，校准本地时钟源的工作时序。

可选的，所述预先确定的基准时隙为在每一子帧结构中的出现次数为1且位置固定的时隙或时隙组合。

可选的，所述确定所述下行射频信号能否被识别，包括：

若所述比较结果为所述第一电压信号大于所述参考电压信号，则所述下行射频信号能被识别。

第二方面，本发明提供的射频时隙功率检测装置包括：

判断模块，用于判断基站的下行射频信号能否被识别；

校准模块，用于在所述下行射频信号能被识别时，对本地时钟源进行校准，使本地时钟源和基站同步；

提取模块，用于在校准完成后提取所述下行射频信号在各个时隙的功率；

其中，所述判断模块包括：