[发明专利]ITO导电玻璃检测装置的检测方法

权利要求书

1.一种ITO导电玻璃检测装置的检测方法，其特征在于，所述ITO导电玻璃检测装置包括图像摄取单元、传动单元、控制单元和图像检测单元，所述控制单元与所述图像摄取单元和传动单元相连，所述图像检测单元与所述图像摄取单元相连；所述检测方法包括：

将所述图像摄取单元固定在ITO导电玻璃待检测表面的相对位置，所述ITO导电玻璃待检测表面包括一个以上连续的待拍摄图形区域，所述待拍摄图形区域的大小由所述图像摄取单元的拍摄范围确定；

所述传动单元在所述控制单元的控制下带动所述ITO导电玻璃或所述图像摄取单元匀速移动，所述图像摄取单元的镜头与所述ITO导电玻璃待检测表面之间保持平行；

当所述图像摄取单元接收到所述控制单元发出的触发信号时，启动对所述ITO导电玻璃待检测表面当前与所述图像摄取单元的镜头正对的图形区域进行拍摄；所述控制单元根据所述触发信号的延迟时间、所述图像摄取单元的估计曝光时间以及移动所述ITO导电玻璃或所述图像摄取单元使得下一个待拍摄的图形区域正对所述图像摄取单元的镜头所需时间确定所述触发信号的发送时机；

由所述图像检测单元对所述图像摄取单元所拍摄的图形区域图像进行检测并输出检测结果。

2.根据权利要求1所述的ITO导电玻璃检测装置的检测方法，其特征在于，所述触发信号的延迟时间为脉冲信号上升沿10％时刻与开关信号上升沿10％时刻之间的时间差值。

3.根据权利要求2所述的ITO导电玻璃检测装置的检测方法，其特征在于，若所述开关信号的上升沿10％时刻为T_d，所述脉冲信号的幅值为V，拟合斜线斜率为k₁，则：

T_d＝-(1/k₁)V。

4.根据权利要求1所述的ITO导电玻璃检测装置的检测方法，其特征在于，所述图像摄取单元的响应使用高斯加权函数求解：

其中，z_mid取低动态范围图像像素的中间值，k依低动态范围图像的个数取值,z为所述图像摄取单元的快门狭缝宽度。

5.根据权利要求1所述的ITO导电玻璃检测装置的检测方法，其特征在于，在完成对当前与所述图像摄取单元的镜头正对的图形区域的拍摄后，移动所述ITO导电玻璃或所述图像摄取单元使得下一个待拍摄的图形区域正对所述图像摄取单元的镜头所需的时间T_tran通过如下方式计算：

其中，V_t为所述ITO导电玻璃或所述图像摄取单元的移动速度，M为相邻的两个待拍摄图形区域中心之间的间距。

6.根据权利要求1所述的ITO导电玻璃检测装置的检测方法，其特征在于，从所述触发信号产生到所述图像摄取单元完成对当前与所述图像摄取单元的镜头正对的图形区域的拍摄，以及移动所述ITO导电玻璃或所述图像摄取单元使得下一个待拍摄的图形区域正对所述图像摄取单元的镜头，该过程所耗费的时间X与所述ITO导电玻璃或所述图像摄取单元的移动距离Y之间具有以下非线性关系：

其中φ,γ是X与Y之间的关系系数。

7.根据权利要求1所述的ITO导电玻璃检测装置的检测方法，其特征在于，所述图像摄取单元为面阵相机。

8.根据权利要求1所述的ITO导电玻璃检测装置的检测方法，其特征在于，所述图像摄取单元为CCD相机或CMOS相机。