[发明专利]一种超声波非介入法检测密闭瓷套内介电液体液位的方法有效
申请号: | 201610136593.3 | 申请日: | 2016-03-10 |
公开(公告)号: | CN105806449B | 公开(公告)日: | 2017-05-17 |
发明(设计)人: | 莫润阳;祁宏昌;梁双龙;王成会 | 申请(专利权)人: | 陕西师范大学 |
主分类号: | G01F23/296 | 分类号: | G01F23/296 |
代理公司: | 西安永生专利代理有限责任公司61201 | 代理人: | 曹宇飞 |
地址: | 710062 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 超声波 介入 检测 密闭 瓷套内介电 液体 方法 | ||
技术领域
本发明属于密闭瓷套内介电液体液位检测技术领域,具体涉及一种用超声波非介入法检测密闭瓷套内介电液体液位的方法。
背景技术
目前,各变电站的电缆终端很多都是用充油瓷套管进行绝缘。但瓷套管内绝缘油会因漏油而导致液位降低,过低的油位导致电场分布改变甚至发生击穿事故,因而必须经常在线监测油位。由于在线瓷套为密闭容器,一般的介入式液位计无法应用;非介入的外贴式液位计由于瓷套外大量伞群而无法安放。目前和本发明相关的、解决此问题的方法主要有两种:一是利用超声波在陶瓷/空气界面和陶瓷/油界面声阻抗差异对瓷套内油位进行检测(对比文件1:申请号为201310628787.1的已公布专利),但这种差异易受表面耦合、瓷套壁厚变化、瓷套壁内余振波干涉、换能器非线性等影响使信号不稳定易出现误判,严重时甚至掩盖这种差异甚至无法实现。另一种方法(对比文件2,申请号201310473564.2的已公布专利)是利用双探头组成的检测系统进行反射率变化比对进而确定液位,这种方法缺点是要利用双探头,在线检测不易控制。
鉴于上面方法的不足,本专利提出一种利用基于第一次界面回波的距离-波幅曲线进行液位检测的方法。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术的不足,提供一种检测结果准确、检测过程快速、便捷并且灵敏度高的超声波非介入法检测密闭瓷套内介电液体液位的方法。
为解决上述问题,本发明的采取的技术方案如下:
该超声波非介入法检测密闭瓷套内介电液体液位的方法,由以下步骤组成:
(1)调整数字型超声探伤仪水平时基线比例和扫描范围,使时基线显示范围至少为瓷套管最大厚度,调整探伤仪的工作频率为1~7.5MHz;
(2)将未注入介电液体介质的对照瓷套分为上段、中段以及下段上并在每一段上分别取至少1个点作为检测点,将检测探头分别耦合在检测点上,调整探伤仪的衰减器,使各个检测点上的第一次界面回波波峰为80%满屏时,记录各检测点所对应的衰减器读数ΔAi和距离瓷套上端面的距离Li,i为检测点数,拟合曲线,绘制固/气界面距离-波幅曲线;
(3)向步骤(2)的对照瓷套中注满介电液体介质,并按照步骤(2)的操作重新检测各检测点所对应的波幅Ti,重新拟合曲线,绘制固/液界面距离波幅曲线;
(4)在与对照瓷套型号相同的待检瓷套上选择待检点,将检测探头耦合在该待检点上,若该待检点上所得的第一次界面回波波峰落在固/气界面距离-波幅曲线上或在该曲线下方临近的位置,则对应位置处的待检瓷套内介质为气体介质,且待检瓷套内的介电液体的液位在该待检点之下,在该待检点之下重复检测;若该待检点所得到的第一次界面回波波峰落在固/液界面距离波幅曲线上或在该曲线下方临近位置,则在对应位置处瓷套内的介质为液体介质,则在该瓷套的相邻伞裙上方重复检测,直至确定出该瓷套内介电液体的液位。
上述探伤仪的检测探头是纵波探头,其工作频率为1.25~7.5MHz,晶片长度为4~8mm。
上述纵波探头包括纵波直探头和纵波小角度探头,纵波小角度探头的角度为6~8度。
上述瓷套壁材声速范围为5000~8000m/s。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1)本发明利用数字超声探伤仪测液位,无需企业增加成本,只需利用现有设备便可完成;若作业人员是无损检测专业人员,操作简单方便;
2)第一次界面回波高度是对介质特性阻抗变化最为敏感的参数,本发明利用不同厚度处第一次界面回波峰值制作的距离-幅度曲线进行介质性质确定,保证在瓷套各个位置处都具有相同的检测灵敏度,所以检测灵敏度高;
3)由于距离-波幅曲线是在同规格瓷套管多位置上用同一探头制作,本质是一种曲线灵敏度,消除了探头耦合、瓷套外径变化、壁厚变化及探头非线性等造成的测量误差,所以该方法检测可靠性、一致性高;
4)由于测量探头和仪器都在容器外,无需在容器上开口,因此实施检测操作时不接触瓷套内的液体,是一种完全非介入式超声检测方法,非常安全,既不泄漏液体,也不污染环境。
附图说明
图1是实施例1中距离波幅曲线制作时探头放置位置示意图;
图2是实施例1的固/气界面距离-波幅曲线和固/液界面距离波幅曲线示意图;
图3是实施例1中待检点回波波峰与介质性质判定方法示意图。
具体实施方式
结合附图和实施例对本发明的技术方案做进一步详述,但是本发明不仅限于下述的实施情形。
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