[发明专利]封框胶宽度检测装置和检测方法有效
申请号: | 201610140769.2 | 申请日: | 2016-03-11 |
公开(公告)号: | CN105651184B | 公开(公告)日: | 2018-06-15 |
发明(设计)人: | 冯文超;曾小强;张宏宇;李向永;邢磊 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 汪源;陈源 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试基板 封框胶 测试基台 宽度检测装置 封框胶涂布 上表面 宽度检测单元 检测 测试 设备涂布 下表面 产线 对盒 | ||
本发明公开了一种封框胶宽度检测装置和检测方法,该封框胶宽度检测装置包括:上测试基台、下测试基台和宽度检测单元;其中,上测试基台的下表面设置有第一测试基板,下测试基台的上表面设置有第二测试基板;第二测试基板用于供封框胶涂布设备在第二测试基板的上表面涂布至少一条测试封框胶;第一测试基板用于在第二测试基板的上表面涂布有测试封框胶后与第二测试基板进行对盒;宽度检测单元用于检测位于第一测试基板和第二测试基板之间的测试封框胶的宽度。本发明的技术方案可对封框胶涂布设备涂布出的封框胶的实际宽度进行检测,以供及时的对封框胶涂布设备的参数进行相应调整,从而避免了在对产线上的产品进行涂布时出现涂布不良的问题。
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别涉及一种封框胶宽度检测装置和检测方法。
背景技术
随着科技的进步,液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)已经成为显示领域的主流产品,在生产工艺中通过将阵列(Array)基板和彩膜(CF)基板对盒可以形成液晶显示屏。其中,对盒工艺主要包括封框胶涂布、固化等步骤。
在对盒工艺完成后,往往需要进行对位检测和封框胶宽度检测(两者一般同时进行),以检测产线的良品率。其中,封框胶宽度检测是指检测涂布的封框胶的在硬化后的胶宽。当封框胶的宽度过小时,容易出现液晶渗漏等问题;当封框胶的宽度过大时,不利于窄边框的实现。现有技术中,当检测出封框胶的宽度数据不符合预定结果后,检测人员会根据检测结果对封框胶涂布设备进行相关参数的调整,从而避免后续产品在封框胶处出现不良。
然而,由于现有技术中封框胶宽度检测必须在对盒工艺完成之后才可在对位检查机内进行宽度检测,从而导致数据反馈不及时,也就不能及时调整封框胶涂布设备,往往会造成很大损失。此外,受监测机能限制,对于封框胶涂布在(位于边缘区域的)黑矩阵上的产品,由于封框胶被黑矩阵遮挡,因而无法进行宽度检测,导致后续产品存在隐患。
发明内容
本发明提供一种封框胶宽度检测装置和检测方法,可以及时对封框胶涂布设备涂布出的封框胶的宽度进行检测,从而有效的降低产线中产品的不良率。
为实现上述目的,本发明提供了一种封框胶宽度检测装置,用于对封框胶涂布设备涂布出的封框胶的实际宽度进行检测,其特征在于,包括:上测试基台、下测试基台和宽度检测单元;
所述上测试基台的下表面设置有第一测试基板,所述下测试基台的上表面设置有第二测试基板,
所述第二测试基板用于所述供封框胶涂布设备在所述第二测试基板的上表面涂布至少一条测试封框胶;
所述第一测试基板用于在所述第二测试基板的上表面涂布有测试封框胶后与所述第二测试基板进行对盒;
所述宽度检测单元用于检测位于所述第一测试基板和所述第二测试基板之间的所述测试封框胶的宽度。
可选地,所述上测试基台的下表面设置有第一凹槽,所述第一凹槽内设置有第一滑轨,所述第一滑轨沿第一方向延伸,所述下测试基台的上表面设置有与所述第一凹槽相对应的第二凹槽,所述第二凹槽内设置有与所述第一滑滑轨相对应的第二滑轨;
所述宽度检测单元包括:检测光发射模块、检测光接收模块和位移检测模块,所述位移检测模块与所述检测光接收模块连接,所述检测光发射模块和所述检测光接收模块中的一个设置在第一滑轨上,另一个设置在第二滑轨上;
所述检测光发射模块用于向所述检测光接收模块发射检测光线;
所述检测光接收模块用于接收所述检测光发射模块发射出的检测光线;
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