[发明专利]液晶显示器件的水波纹等级的测量方法和装置有效

专利信息
申请号: 201610140930.6 申请日: 2016-03-11
公开(公告)号: CN105549240B 公开(公告)日: 2018-09-21
发明(设计)人: 张一三;王春;陈俊生;郭远辉;王炎 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G01M11/02
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;黄灿
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 液晶显示 器件 水波 等级 测量方法 装置
【说明书】:

发明涉及液晶显示技术领域,公开了一种液晶显示器件的水波纹等级的测量方法和装置。所述测量方法预先获取标准亮度数据差值与标准水波纹等级的对应关系,然后获取待测液晶显示器件显示的测试图像在水波纹等级测量前后的测量亮度数据差值,并从所述对应关系中获取对应的水波纹等级,从而能够采用定量数据分析的方式,准确获取待测液晶显示器件的水波纹等级,避免了目前使用的人眼判定水波纹等级而带来的人为误差,确保了测试结果的准确性和客观性。

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域,特别是涉及一种液晶显示器件的水波纹等级的测量方法和装置。

背景技术

液晶显示器件的主要结构为显示面板,显示面板包括对盒的阵列基板和彩膜基板,在阵列基板和彩膜基板之间填充液晶。在成盒过程中,首先在阵列基板和彩膜基板的内表面涂敷取向膜,通过相应的取向工艺,使液晶分子按一定的方式进行排列;然后,经真空对盒工艺将阵列基板和彩膜基板定型。

一般地,通过在彩膜基板上形成隔垫物,来控制显示面板的盒厚。盒厚的均一性是液晶显示器品质的一个重要技术指标。当显示面板的表面受外力作用时,会发生形变,当外力足够大时,彩膜基板和阵列基板在外力作用下会发生相对位移。这种位移使隔垫物与阵列基板的接触面积发生变化。当外力撤销的瞬间,由于接触面积的变化,发生形变的隔垫物的相对位移难以恢复。因此,在某些相对位移较大的区域,彩膜基板上的黑矩阵不能遮挡住光线,出现漏光,造成显示面板的亮度不均,类似水面的波纹,这种现象称为水波纹。水波纹现象的严重程度和隔垫物发生的相对位移成正比关系,位移越大,漏光区域的面积越大,该漏光区域的亮度就越大,对应的水波纹的级别就越高。

目前,现有的判断水波纹等级的通行方法是:通过人眼目测进行人工判定水波纹级别。具体方法是,首先通过人眼挑选出具有不同程度水波纹现象的标准样品液晶面板,分别评定出对应的水波纹等级。其次,测试待测液晶显示面板的水波纹,测试人员凭借标准样品,依据人眼进行主观判定待测液晶样品的水波纹等级。这种方法的缺点如下:第一,依靠测试人员的眼睛去主观判断,随意性强,测试结果的准确性难以确保;第二,由于测试具有间歇性,人眼不能随时且准确记录下不同区域内水波纹的发生情况,这同样会影响结果的准确性。

发明内容

本发明提供一种液晶显示器件的水波纹等级的测量方法和装置,用以准确测量液晶显示器件的水波纹等级。

为解决上述技术问题,本发明实施例中提供一种液晶显示器件的水波纹等级的测量方法,包括:

获取标准亮度数据差值与标准水波纹等级的对应关系;

获取待测液晶显示器件显示测试图像时的第一初始亮度数据;

对所述待测液晶显示器件施加预设外力,获取所述待测液晶显示器件的第一有效亮度数据;

获取第一初始亮度数据和第一有效亮度数据的测量亮度数据差值,并根据对应关系获取与所述测量亮度数据差值对应的水波纹等级。

本发明实施例中还提供一种液晶显示器件的水波纹等级的测量装置,包括:

第一获取单元,用于获取标准亮度数据差值与标准水波纹等级的对应关系;

第二获取单元,用于获取待测液晶显示器件显示测试图像时的第一初始亮度数据;

第三获取单元,用于对所述待测液晶显示器件施加预设外力,获取所述待测液晶显示器件的第一有效亮度数据;

确定单元,用于获取第一初始亮度数据和第一有效亮度数据的测量亮度数据差值,并根据所述对应关系获取与所述测量亮度数据差值对应的水波纹等级。

本发明的上述技术方案的有益效果如下:

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