[发明专利]N型IBC电池结构及其制备方法在审
申请号: | 201610152526.0 | 申请日: | 2016-03-17 |
公开(公告)号: | CN105576084A | 公开(公告)日: | 2016-05-11 |
发明(设计)人: | 董鹏;郭辉;屈小勇;张玉明 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学;中电投西安太阳能电力有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0216 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | ibc 电池 结构 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及太阳能电池技术领域,特别涉及一种N型IBC电池结构及其制备方 法,可用于光伏发电。
现有技术
太阳能光伏发电因其清洁、安全、便利、高效等特点,已成为世界各国普遍 关注和重点发展的新兴产业。因此,深入研究和利用太阳能资源,对缓解资源危 机、改善生态环境具有十分重要的意义。
IBC电池技术从结构上打破传统晶硅电池的结构限制,为提高电池转换效率 提供较大空间,目前产业化电池效率已达23%。展望未来,转化效率超过21%的N 型晶体硅电池已成为传统晶体硅太阳能电池的发展趋势,是当今国际研究和产业 化的前沿。
以常规N型IBC电池为例,如图1所示,IBC电池的基本结构包括:N型硅片基 体100,N型硅片基体的表面由内到外依次是N+掺杂层101、钝化层102及减反射层 103;N型硅片基体的背面是间隔排列着、梳状的N+掺杂区104和P+掺杂区105,N+ 掺杂区104表面由内到外依次是钝化层106、增反射层108和负电极109,P+掺杂区 105表面由内到外依次是钝化层107、增反射层108和正电极110。
常规制作IBC电池的工艺流程大致为:去损伤层及制绒-双面扩散形成N+层- 刻蚀并去PSG-淀积或印刷形成掩膜-腐蚀形成P+掺杂区-扩散形成P+掺杂层-形成 正面钝化层和减反射层-背面掩膜形成N+表面钝化层-背面掩膜形成P+表面钝化 层-背面形成增反射层-刻蚀形成电极接触图形-印刷电极-烧结。
以上仅是制作IBC电池的主要步骤,而在实际生产过程中,IBC电池的制作涉 及到非常多的技术细节及相应的操作步骤,使得IBC电池生产工艺复杂,制造成 本高昂、良品率较低,影响了IBC电池的发展。
发明目的
本发明提供了一种IBC电池结构及其制作工艺方法,以简化IBC电池的制作工 艺,提高生产效率和良品率,并降低其生产成本。
发明内容
本发明的技术思路是:简化IBC电池的结构,其技术方案如下:
一种N型IBC电池,包括减反层、N型硅片基体、掺杂层、钝化层及金属电极, 其特征在于:减反层设在N型硅片基体的正面,硅掺杂层包括n+重掺杂层和p+重 掺杂层,该n+重掺杂层和p+重掺杂层平行设在N型硅片基体的背面,钝化层设在 n+重掺杂层和p+重掺杂层的上面;在n+重掺杂层、p+重掺杂层上引出金属电极至 钝化层背面。
制作上述N型IBC电池的方法给出如下三种技术方案:
技术方案1:
一种制备N型IBC电池的方法,包括如下步骤:
(1)N型硅片双面制绒:将N型硅片置于质量分数为1%~3%的NaOH溶液中反应 20~30min,进行双面制绒并对硅背面抛光;
(2)在硅片背面丝网印刷硼源和磷源,硼源印刷宽度为50μm~1.5mm、磷源印 刷宽度为30μm~1.5mm;
(3)在硅片背面淀积一层厚度为75nm~200nm、折射率为1.8~2.5的SiNx掩膜;
(4)将硅片置于扩散炉中,在温度800℃~1000℃环境下扩散40分钟~90分钟, 使印刷在硅片背面的硼源和磷源向硅中扩散,形成n+和p+掺杂层,其中n+掺杂层 的扩散方块电阻为15~60ohm/□,p+掺杂层的扩散方块电阻为20~80ohm/□;
(5)采用浓度为10%~15%的HF溶液,去除磷硅玻璃PSG、硼硅玻璃BSG及背面 掩膜;
(6)采用PECVD方法在掺杂层背面淀积厚度为50nm~200nm,折射率为2.0~2.3 的SiNx膜作为钝化层;
(7)采用PECVD在硅片正面沉积厚度为60nm~100nm,折射率为1.8~2.3的SiNx膜作为减反膜;
(8)在钝化层背面激光刻蚀形成电极接触图形,其激光刻蚀宽度为30μm ~80μm,刻蚀深度为50nm~200nm,以去除钝化层且不损伤掺杂层的硅片表面;
(9)在形成电极接触图形的硅片背面淀积金属Ag/Al层,制作电极,完成N型 IBC电池的制作。
技术方案2:
一种制备N型IBC电池的方法,包括如下步骤:
1)N型硅片双面制绒:将N型硅片置于质量分数为1%~3%的KOH溶液中反应 20~30min,进行双面制绒并对硅背面抛光;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的