[发明专利]拉拔测试机构

权利要求书

1.一种拉拔测试机构，用于检测待测试装置的待测试元件的拉拔力，该待测试装置具有本体和设置于该本体上的沿第一方向排列的至少一行待测试元件，其特征在于，该拉拔测试机构包含：

支架；

测试片，设置在该支架上且与该支架枢接，以使该测试片相对该支架转动；

其中，当该支架相对该待测试元件沿该第一方向移动时，该测试片与一行待测试元件滚动接触且在接触时该测试片抵顶该待测试元件，以施加第二方向上的拉拔力于该待测试元件上，当该待测试元件与该本体的实际结合力小于该拉拔力时，该待测试元件脱离该本体，其中，该第二方向为该待测试元件脱离该本体的方向。

2.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，该支架上具有两个支撑部和转轴，该两个支撑部之间具有容置空间以容置该测试片，该测试片具有通孔以及相背的第一表面与第二表面，该通孔贯穿该第一表面和该第二表面，该转轴穿设该通孔且该转轴的两端分别与该两个支撑部固定连接，以使该测试片可相对该支架绕该转轴的轴心旋转。

3.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，该一行待测试元件包括相邻的第一待测试元件和第二待测试元件，当该支架沿该第一方向移动时，该测试片依次与该第一待测试元件和该第二待测试元件滚动接触，且接触该第一待测试元件的该测试片的部位与接触该第二待测试元件的该待测试片的部位不同。

4.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，当该支架沿该第一方向移动时，该测试片相对该待测试装置所在的平面倾斜第一预设角度，以向该待测试元件提供该第二方向上的拉拔力，其中，该第一预设角度小于90度大于等于0度。

5.如权利要求4所述的拉拔测试机构，其特征在于，该第一预设角度为45度。

6.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，该待测试元件具有向第三方向延伸的凸起部，当该测试片与该待测试元件接触时，该测试片位于该凸起部和该本体之间且抵顶该凸起部，以向该待测试元件提供该第二方向上的拉拔力，其中，该第三方向平行于该待测试装置所在的平面；或者，该待测试元件与该本体之间具有第一间隙，当该测试片与该待测试元件接触时，该测试片位于该第一间隙内且该测试片抵顶该待测试元件，以向该待测试元件提供该第二方向上的拉拔力。

7.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，该测试片为圆形，该测试片于其圆心位置处与该支架枢接，该测试片绕该圆心转动。

8.如权利要求7所述的拉拔测试机构，其特征在于，该测试片中心区域的厚度大于其边缘区域的厚度，其中该中心区域指的是接近该圆心的位置，边缘区域为远离圆心的位置。

9.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，还包括底座，该底座用于放置待检测的待测试装置，该支架设置于该底座上。

10.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，当该支架相对该待测试元件沿该第一方向移动时，该测试片与该待测试装置接触，使得该测试片受该待测试装置施加的摩擦力而产生滚动；或者，拉拔测试机构还包括第一驱动电机，该第一驱动电机带动该测试片相对该支架旋转。

11.如权利要求1所述的拉拔测试机构，其特征在于，拉拔测试机构还包括第二驱动电机，该第二驱动电机驱动该支架沿该第一方向匀速移动。

12.如权利要求1-11任一项所述的拉拔测试机构，其特征在于，该待测试装置为键盘，该待测试元件为键帽。