[发明专利]一种层状介质瞬变电磁测深定性分析方法有效
申请号: | 201610156456.6 | 申请日: | 2016-03-18 |
公开(公告)号: | CN105676301B | 公开(公告)日: | 2018-08-21 |
发明(设计)人: | 席振铢;黄龙;宋刚;周胜;龙霞;侯海涛;陈兴朋;薛军平;亓庆新;王亮;肖炜;邓华;韦洪兰;王鹤;边祥会;董志强;潘纪敏;范福来 | 申请(专利权)人: | 湖南五维地质科技有限公司 |
主分类号: | G01V3/38 | 分类号: | G01V3/38 |
代理公司: | 长沙永星专利商标事务所(普通合伙) 43001 | 代理人: | 周咏;林毓俊 |
地址: | 410205 湖南省长沙*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 层状 介质 电磁 测深 定性分析 方法 | ||
1.一种层状介质瞬变电磁测深定性分析方法,其特征在于包括下述的步骤:
利用瞬变电磁法获得层状介质断面单个实测点的二次场衰减曲线;
确定背景二次场曲线:若是定性分析层状地电结构,为符合均匀半空间衰减规律的任意二次场曲线;若是定性分析某测点相对于背景围岩的地电结构的变化,则为参考点的二次场曲线,该参考点能代表测区背景围岩地电结构;
将单个实测点的二次场衰减曲线数值对应比上背景二次场曲线数值,所得结果再取相反数,得到二次场反比值曲线;
根据二次场反比值曲线随时间变化规律定性判断层状地电结构或相对于参考点的地电结构的变化。
2.根据权利要求1所述的层状介质瞬变电磁测深定性分析方法,其特征在于二次场反比值曲线随时间变化能反映层状介质由浅至深各层电阻率相对变化。
3.根据权利要求2所述的层状介质瞬变电磁测深定性分析方法,其特征在于:若二次场反比值曲线随时间增加,则表示地下相邻岩层电阻率随深度加深而变大,或相对于参考点其地下有相对高阻层;反之,若二次场反比值曲线随时间减小,则表示地下相邻岩层电阻率随深度加深而减小,或相对于参考点其地下有相对低阻层。
4.根据权利要求1所述的层状介质瞬变电磁测深定性分析方法,其特征在于所述二次场为同点装置下的晚期二次场。
5.根据权利要求4所述的层状介质瞬变电磁测深定性分析方法,其特征在于所述晚期指>16,其中L为发射回线的边长,τ为瞬变电场扩散参数。
6.根据权利要求1所述的层状介质瞬变电磁测深定性分析方法,其特征在于层状介质是指由两个以上相互平行的、电阻率不同的岩层所组成,各层电阻率差异和厚度能被所采用瞬变电磁法分辨。
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