[发明专利]一种绝缘液体中电子迁移率的测量方法

说明书

本发明属于液体电介质参数测量技术领域，具体涉及一种绝缘液体中电子迁移率的测量方法。所述方法为：采用多级雷电冲击发生器，调整出输出电压幅值在2.5kV～10kV的近似阶跃电压，施加不同幅值的阶跃电压，测量待测绝缘液体在电极间的击穿电压和击穿时延，通过分析击穿电压‑击穿时延曲线，计算出电子迁移率。本发明方法所采用的电压输入装置简单，易于操作，发生击穿时可以呈现显著的电压截断波形；且对测量液体的纯净度无特殊要求，可以广泛适用于工程绝缘液体的测试。

技术领域

本发明属于液体电介质参数测量技术领域，具体涉及一种绝缘液体中电子迁移率的测量方法。

背景技术

绝缘液体的电子迁移率是反映绝缘液体基本物理属性的一个重要参数，该参数对研究液体电介质中电子的传输过程和击穿机理都有着重要意义。

目前针对液体电介质中电子迁移率的测量方法，主要有两种，一种是脉冲功率法，即通过不同脉宽的脉冲电压，施加在含有被测液体的小电极间隙，观察临界击穿电压，根据施加电压脉宽-临界击穿电压曲线，得到电子渡越时间，由此计算电子迁移率。该方法对脉宽要求严格，要求脉冲输出低至0.1μs，脉冲功率装置复杂昂贵，且难以观测小间隙(0.05mm)下的击穿现象。另一种是激发电流法，即利用光、射线、微波等方式激发被测液体，产生过剩电子，通过过剩电子传输产生的瞬时电流信号得到电子渡越时间，计算电子迁移率。该方法对液体的纯净程度要求高，如对于正己烷，要求其在300V/cm场强下，电阻率达1016-1017Ω·cm，微量的杂质即可影响电流信号，甚至导致表征电子迁移的电流信号消失。综上可知，现有电子迁移率测试方法存在装置复杂、难以观察和对测试液体纯净程度要求高等问题。

发明内容

本发明提供了一种绝缘液体中电子迁移率的测量方法，具体技术方案如下：

一种绝缘液体中电子迁移率的测量方法，采用多级雷电冲击发生器，调整出输出电压幅值在2.5kV～10kV的近似阶跃电压，施加不同幅值的阶跃电压，测量待测绝缘液体在电极间的击穿电压和击穿时延，通过分析击穿电压-击穿时延曲线，计算出电子迁移率。

具体为：

(1)采用基于Marx回路的多级雷电冲击发生器，通过调整击穿球隙有效间距和波头、波尾电阻阻值，获得近似阶跃电压；

(2)将不同幅值的阶跃电压施加到电极之间，测量待测绝缘液体的击穿电压和击穿时延，每一绝缘液体取三组平行试样分别测试；然后，以击穿时延为横坐标、击穿电压为纵坐标作图，得到三组击穿电压-击穿时延曲线；对曲线结果进行汇总、拟合，计算得出集合参数，推导出电子渡越时间，最后计算得到电子迁移率。

更进一步地，具体步骤为：

(a)采用基于Marx回路的多级雷电冲击发生器，调整隔离间隙、波头电阻阻值和波尾电阻阻值，使得空载条件下，三次重复输出电压幅值的波动不超过±10％；具体参数为：输出电压幅值2.5kV～10kV，波前时间0.6μs，波尾时间大于100μs；

(b)将第一份待测绝缘液体试样添加到测试腔体中，一端电极接地，另一端与高压输出相接，调整黄铜电极间距为0.05±0.01mm；

(c)施加电压至出现截断波形，记录击穿电压Um、击穿时延tf数值，每个电压下重复三次实验，记录Um、tf数值，数值最低的记为Us；

(d)逐级提高施加电压，得到不同的Um、tf数值，直到tf<1μs；