[发明专利]一种面向三维夹具设计的公差迭代式优化方法有效

专利信息
申请号: 201610158997.2 申请日: 2016-03-18
公开(公告)号: CN105740585B 公开(公告)日: 2019-03-26
发明(设计)人: 唐文斌;黄学良;韦力凡;王蕾 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院总体工程研究所
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人: 杨春
地址: 621908*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 面向 三维 夹具 设计 公差 迭代式 优化 方法
【权利要求书】:

1.一种面向三维夹具设计的公差迭代式优化方法,其特征在于,包括以下步骤:

(a)根据定位销公差范围,选取定位销误差样本;

(b)根据定位销误差样本,计算夹具定位误差;

(c)根据定位销的位矢和法矢,计算定位销的几何灵敏度系数;

(d)根据夹具定位误差和定位销的几何灵敏度系数,迭代式优化定位销公差;

步骤(a)的具体步骤如下:

(a1)计算好格子点集,其具体表达式如下:

其中k表示好格子点序号,hk表示第k个好格子点,k=1,2,…,6;

(a2)计算“华罗庚-王元”点集,其具体表达式如下:

δjk=mod(jhk,1)

其中j表示“华罗庚-王元”点的编号,j=1,2,…,N;N为“华罗庚-王元”点的总数,k=1,2,…,6;mod(jhk,1)表示jhk对1取模运算;

(a3)计算定位销误差样本,其具体表达式如下:

其中Δjk表示第k个定位销的第j个误差样本,k=1,2,…,6,j=1,2,…,N,ajk表示标准正态分布中概率为1-δjk的上侧分位数,Tk表示第k个定位销的初始公差;

步骤(b)的具体步骤如下:

(b1)令j=1;

(b2)计算定位销的实际位矢,其具体表达式如下:

rk=r′kjknk

其中rk表示第k个定位销的实际位矢,rk=[rkx,rky,rkz]T,rkx、rky和rkz分别表示rk的三个坐标分量,r′k表示第k个定位销的理论位矢,r′k=[r′kx,r′ky,r′kz]T,r′kx、r′ky和r′kz分别表示r′k的三个坐标分量,nk=[nkx,nky,nkz]T表示第k个定位销与工件表面接触点的法矢,nkx、nky和nkz分别表示nk的三个坐标分量;

(b3)采用标准Levenberg-Marquardt算法计算参数向量使得目标函数:

达到最小值,其中w=[w1,w2,w3]T,φ、和γ分别表示工件产生的姿态误差,w1、w2和w3分别表示工件产生的位置误差,R(Θ)表示旋转矩阵,其具体表达式为:

(b4)计算工件上观测点的误差,即夹具定位误差,其具体表达式如下:

其中ej表示观测点的第j个误差,ξx、ξy和ξz分别表示观测点位矢的三个坐标分量,nx、ny和nz分别表示观测点法矢的三个坐标分量;

(b5)令j=j+1;

(b6)判断迭代是否结束:若j≤N,则转至步骤(b2),若j>N,则迭代结束;

步骤(c)的具体步骤如下:

(c1)令六个定位销的位矢为其理论值,其具体表达式如下:

rk=r′k

其中k=1,2,…,6;

(c2)令k=1;

(c3)计算第k个定位销产生微小扰动后的位矢,其具体表达式如下:

rk=r′k+ηnk

其中η表示微小扰动;

(c4)采用标准Levenberg-Marquardt算法计算参数向量使得目标函数:

达到最小值;

(c5)计算微小扰动对观测点的影响,其具体表达式如下:

其中δk表示观测点的微小扰动;

(c6)计算第k个定位销的几何灵敏度系数,其具体表达式如下:

其中sk表示第k个定位销的几何灵敏度系数;

(c7)令rk=r′k

(c8)令k=k+1;

(c9)判断迭代是否结束:若k≤6,则转至步骤(c3),若k>6,则迭代结束;

步骤(d)的具体步骤如下:

(d1)计算观测点误差的平均值,其具体表达式如下:

其中μ为观测点误差的平均值;

(d2)计算测量点误差的方差,其具体表达式如下:

其中σ2为观测点误差的方差,σ为观测点误差的标准差;

(d3)计算测量点的超差比率,其具体表达式如下:

d=(6×σ-Tf)/Tf

式中d为测量点的超差比率,Tf为测量点的公差要求;

(d4)判断是否进行迭代式优化:若|d|≤eps,eps表示迭代终止的阈值,则无需进行迭代式优化,其中0<eps≤0.05,否则转至步骤(d5);

(d5)计算第k个定位销的新公差,其具体表达式如下:

T′k=Tk-d×sk

其中Tk表示第k个定位销初始公差,T′k表示第k个定位销的新公差;

(d6)将T′k作为第k个定位销的初始公差,即令Tk=T′k,并转至步骤(a),进行下一次分析。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院总体工程研究所,未经中国工程物理研究院总体工程研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610158997.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top