[发明专利]一种静电抗扰度的诊断装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子设备诊断领域，特别涉及一种静电抗扰度的诊断 装置及方法。

背景技术

目前在测试电子设备的静电抗扰度的时候，一般是将干扰脉冲施 加在被测物表面上，根据被测物会发生特定的反应从而判断被测物的 合格与否。在测试时通常使用静电枪来实施上述测试工作，静电枪向 被测物发射标准干扰脉冲，被测物会发生不同的反应，测试人员会根 据这些反应从而能够判断被测物是否符合使用标准，需要说明的是标 准干扰脉冲的参数特性是根据行业标准(例如EN-6100-4-2)指定的， 但在使用静电枪定位敏感源(即抗干扰弱的位置)时特别是在不易接 触到的某些角落中需要从被测物引出导线再测试，操作复杂不易实 施；此外静电枪释放的干扰脉冲干扰范围较大，无法准确定位具体的 被测物；还有就是静电枪为了达到标准干扰脉冲的参数特性，其发出 的能量较高，当能量控制不当时容易将被测物(特别是易损的电子元 器件)损坏。

发明内容

本发明的目的在于提供一种静电抗扰度的诊断装置及方法，该装 置能够利用现有的测试方法作为参照，在不损坏被测物的前提下准确 定位不合格的电子元器件及敏感电路，并且能够灵活地根据具体情况 对不同的被测物使用不同的诊断方式来高效的达到诊断目的。

为了解决上述技术问题，本发明采用了如下技术方案：一种静电 抗扰度的诊断装置，其特征在于，包括生产组件、发射头和用于供电 的电源，其中：

所述生产组件配置为利用所述电源的电能产生预设电流；

所述发射头配置为加载所述预设电流产生并发射静电干扰脉冲， 所述静电干扰脉冲施加在被测物上。

作为优选，所述发射头进一步配置为按照预设的频率发射所述静 电干扰脉冲。

作为优选，所述发射头构造为圆环形或柱形以相应地产生磁场或 电场，以通过所述磁场或电场产生所述静电干扰脉冲。

作为优选，所述发射头可拆卸式连接在所述生产组件上。

作为优选，还包括调节组件，所述调节组件安装在所述生产组件 上，所述调节组件配置为直接或间接地调节所述静电干扰脉冲的参数 特性。

作为优选，还包括安装在所述生产组件上的开关，所述开关配置 为导通或切断所述装置的供电电流。

本发明还提供了一种静电抗扰度的诊断方法，包括以下步骤：

S1：生成一预设电流；

S2：通过该预设电流生成静电干扰脉冲；

S3：将该静电干扰脉冲施加到被测物上；

S4：采集被测物的电气特性变化，以得到其静电抗扰度。

作为优选，步骤S3中，以时间间隔的方式将该静电干扰脉冲连 续施加到被测物上。

作为优选，步骤S2进一步为：以可调参数的方式生成该静电干 扰脉冲；所述参数包括该静电干扰脉冲的上升沿时间、下降沿时间、 峰值、频率。

作为优选，步骤S2具体为：根据该预设电流产生磁场或者电场， 通过所述磁场或电场产生该静电干扰脉冲。

本发明的有益效果在于：使用本发明的诊断装置对印刷电路板 (PCB)等电子元器件进行静电抗扰度的诊断时，能够根据具体情况 使用不同的发射头发射静电干扰脉冲，容易准确定位敏感源并得到被 测物的诊断信息，使用过程中不易损坏被测物，而且能够灵活使用特 别是能够对静电枪不易测试到的位置上的电子元器件及电路进行静 电抗扰度测试。

附图说明

图1为本发明实施例的静电抗扰度的诊断装置的结构图；

图2为本发明实施例的静电抗扰度的诊断装置的一种外观示意 图；

图3为本发明实施例的静电抗扰度的诊断装置的另一种外观示意 图；

图4为本发明实施例的静电抗扰度的诊断方法的主要流程图。

附图标记说明

1-发射头2-生产组件3-电源

4-调节组件5-开关

具体实施方式

为使本领域技术人员更好地理解本发明，下面参照附图对本发明 的实施例进行详细说明，但不作为对本发明的限定。

实施例一

本发明的实施例的一种静电抗扰度的诊断装置，如图1、图2和 图3所示，包括生产组件2、发射头1和电源3，其中：