[发明专利]飞针测试机开路测试路径优化方法

说明书

技术领域

本发明涉及印制板测试技术领域，尤其涉及一种飞针测试机开路测试路径优化方法。

背景技术

印刷电路板(PCB)是集成各种电子元器件的信息载体，在各个领域得到了广泛的应用。随着技术的不断发展和工业的持续进步，电子产品趋于更轻、更薄、更短、更小，也使得PCB制造技术朝更高密度发展。在高度自动化的生产现场如何高效得检测高密度PCB以及降低检测成本，一直是研究人员的难题。目前，我国在生产PCB过程中的测试手段比较单一，其中飞针测试是一种主要的测试手段，但现有的飞针测试机运行效率低下、操作流程复杂、错检率也高。为了改善这种情况，发明一种能够生成高效、稳定、精确的PCB检测路径算法就成为一项具有现实意义的紧迫任务。

飞针测试机是一个在制造环境测试PCB(印刷电路板)的系统。它用探针代替车床，在X-Y机构上装有4-8个由电机驱动的可分别快速移动的探针，利用探针在Z方向的移动同PCB的焊点进行接触并进行电气测量。测试人员把设计工程师的CAD数据转换成可使用的文件，这些文件包含了需要测试的焊点的坐标(X，Y)及焊点在PCB中的网络值，由此决定驱动各个探针的X、Y、Z电机的移动.通常，一块PCB上可能有上千个焊点，如果探针不按一种最优或较优的路径移动进行测试，可能会耗费数倍的测试时间，延误生产。把旅行商问题即TSP问题应用到该系统上，很好的解决了探针移动轨迹优化的问题。TSP属于组合数学中一个古老而又困难的问题。有效的解决它，在可计算理论上具有重要的理论意义，同时也具有重要的实际应用价值。目前解决此类问题常用的算法有遗传算法、模拟退火算法等。但是他们并没有很好的根据飞针测试仪的特点来建立模型，因为时间复杂的太高而未达到很好的效率。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种飞针测试机开路测试路径优化方法。

根据本发明的一种技术方案，一种飞针测试机开路测试路径优化方法，其特征在于：所述方法包括如下步骤：

A、读取并整理路径优化所需要的信息：

B、循环对每个网络的点进行配对，然后再将配对合并：

B1、B1、建立第一至第十三容器，其中第七、第八、第九、第十、第十一和第十二容器保存配对结果，第十三容器用于保存配对合并后的结果；

B2、分别从正面可测试点容器、反面可测试点容器中读取同一个网络的正面点及反面点，分别保存到第一容器、第二容器中；

B3、对第一、二容器中的点重新排序：

B31、B31、分别将第一容器、第二容器中的点按x坐标从小到大排列，再将容器中的点分成左面点和右面点两部分；将第一容器中的左面点和右面点分别放入第三容器和第四容器中；将第二容器中的左面点和右面点分别放入第五容器和第六容器中；再分别对第三容器、第四容器、第五容器、第六容器的点按最近邻法则进行排序；然后将第一容器、第二容器清空；再将第三容器与第四容器中的点放入第一容器中，第五容器与第六容器的点放入第二容器中；

B4、进行开路配对：

B41、当前网络只有正面点或只有反面点时进行单面配对；当前网络既有正面点也有反面点时，进行双面点配对；

B42、当配对的结果为有正、反面各两个点时，保存在第七容器中；当配对的结果为有正、反面各一个点时，保存在第八容器中；当配对的结果为只有正面点时，保存在第九容器中；当配对的结果为只有反面点时，保存在第十容器中；当配对的结果为有两个正面点和一个反面点时，保存在第十一容器中；当配对的结果为有一个正面点和两个反面点时，保存在第十二容器中；

B5、当前网络处理完成后清空第一、第二、第三、第四、第五、第六容器，并将反面可测试点容器中的所有第二容器中的点删除,正面可测试点容器中的所有第一容器中的点删除；

B6、判断正、反面可测试点容器是否都为空，若不为空，重复B2、B3、B4、B5步骤；若为空执行B7；

B7、配对合并，合并后放入第十三容器中；

C、开路优化：

D、生成测试文件：开路优化完成后，生成新的CONTI.LST文件。

根据本发明所述的飞针测试机开路测试路径优化方法的一个优选方案，开路优化按以下步骤进行：

C1、初始化链表，读取第十三容器中的第一行的信息，并对链表第一个结点进行初始化，初始化完成后在第十三容器中删除该行；