[发明专利]热传感器及其操作方法在审
申请号: | 201610171935.5 | 申请日: | 2011-10-20 |
公开(公告)号: | CN105784158A | 公开(公告)日: | 2016-07-20 |
发明(设计)人: | 隋彧文 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | G01K7/01 | 分类号: | G01K7/01;G01K7/16 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 传感器 及其 操作方法 | ||
1.一种热传感器,包括:
比较器,具有第一输入节点和第二输入节点;
参考电压发生器,与所述比较器的所述第一输入节点电连接,所述参 考电压发生器被配置为提供基本上独立于温度的参考电压;以及
与绝对温度互补CTAT感测电路,与所述比较器的所述第二输入节点 电连接,所述CTAT感测电路被配置为提供依赖于温度的电压,其中,所 述CTAT感测电路包括:
电流反射镜;
第一金属氧化物半导体MOS晶体管,电连接在所述电流反射镜与 地之间,其中,第一节点在所述第一MOS晶体管与所述电流反射镜之 间;
第一电阻器,与所述电流反射镜电连接,其中,第二节点在所述 第一电阻器与所述电流反射镜之间;以及
第二MOS晶体管,与所述第一电阻器串联电连接,其中,所述第 二MOS晶体管和所述第一电阻器以并联的方式与所述第一MOS晶体 管电连接,并且所述第一MOS晶体管和所述第二MOS晶体管在所述 热传感器的感测操作期间在子阈域中进行操作;
其中,所述参考电压发生器包括:
电流反射镜;
第六金属氧化物半导体MOS晶体管,电连接在所述参考电压发生 器的电流反射镜与地之间,其中,第五节点在所述第六MOS晶体管与 所述电流反射镜之间;
第五电阻器,与所述参考电压发生器的电流反射镜电连接,其中, 第六节点在所述第五电阻器与所述参考电压发生器的电流反射镜之 间;以及
第七MOS晶体管,与所述第五电阻器串联电连接,其中,所述第 七MOS晶体管和所述第五电阻器以并联的方式与所述第六MOS晶体 管电连接;
第八MOS晶体管,与电源电压电连接,其中,所述第八MOS晶 体管的栅极与所述参考电压发生器的电流反射镜电连接;
第六电阻器,与所述第八MOS晶体管串联电连接,其中,所述第 八MOS晶体管和所述第六电阻器之间的第七节点与所述比较器的所 述第一输入节点电连接;
所述热传感器还还包括:
第三MOS晶体管,与电源电压电连接;
第四MOS晶体管,与所述第三MOS晶体管串联电连接;
第二电阻器,电连接在所述第一节点与所述第三晶体管和所述第四晶 体管之间的第三节点之间;以及
第三电阻器,电连接在所述第三节点和所述第二节点之间。
2.根据权利要求1所述的热传感器,其中,所述第一节点与所述比较 器的所述第二输入节点电连接。
3.根据权利要求2所述的热传感器,其中,所述第四MOS晶体管在 所述热传感器的感测操作期间在子阈域中进行操作。
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