[发明专利]色织物经纬纱密度的测量方法

权利要求书

1.一种色织物经纬纱密度的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、采集色织物的双面图像；

S2、将采集到的色织物的双面图像分别转化为灰度图像；

S3、融合双面的灰度图像；

S4、去除融合图像的噪声；

S5、对去噪声后的融合图像进行傅里叶变换，得到功率谱图；

S6、提取水平方向和/或垂直方向上关于原点对称的特征亮点；

S7、根据所述步骤S6中提取的特征亮点，重构经纬纱线的图像；

S8、根据所述步骤S7中重构的图像，计算经纱和纬纱的密度。

2.根据权利要求1所述的色织物经纬纱密度的测量方法，其特征在于，在 所述步骤S3中，融合双面的灰度图像的方法为两面灰度值取大法。

3.根据权利要求1所述的色织物经纬纱密度的测量方法，其特征在于，在 所述步骤S3中，融合双面的灰度图像的方法为两面灰度值取小法。

4.根据权利要求1所述的色织物经纬纱密度的测量方法，其特征在于，在 所述步骤S3中，融合双面的灰度图像的方法为两面灰度值求平均法。

5.根据权利要求1所述的色织物经纬纱密度的测量方法，其特征在于，在 所述步骤S4中，通过巴特沃斯低通滤波器去除融合图像的噪声。

6.根据权利要求5所述的色织物经纬纱密度的测量方法，其特征在于，所 述巴特沃斯低通滤波器的产生公式为

D(u,v)=[(u-M/2)2+(v-N/2)2]1/2H(u,v)=11+[D(u,v)/D0]2n;]]>

其中，所述D(u,v)是频率点(u,v)与频率中心的距离，所述D₀是巴特沃斯 低通滤波器的截止频率，所述n是所述巴特沃斯低通滤波器的阶数。

7.根据权利要求2所述的色织物经纬纱密度的测量方法，其特征在于，在 所述步骤S6中，所提取的特征亮点为最亮峰点。

8.根据权利要求1所述的色织物经纬纱密度的测量方法，其特征在于，在 所述步骤S7中，通过傅里叶反变换得到经纬纱线的重构图。

9.根据权利要求1所述的色织物经纬纱密度的测量方法，其特征在于，经 纬纱线密度的计算公式为

d1=Mu1,d2=Nv2dj=d1·2.54R,dw=d2·2.54RYj=1dj,Yw=1dw;]]>

其中，所述R为织物图像的分辨率，所述M为经向像素数，所述N为纬向 像素数，(u₁,v₁)为经纱对应的空间频率，(u₂,v₂)为纬纱对应的空间频率，所 述d₁为理想状态下的经纱线间的间距，所述d₂为理想状态下的纬纱线间的间距， 所述d_j为经纱线间的实际间距；所述d_w为纬纱线间的实际间距，所述Y_j为经纱 的实际密度，所述Y_w为纬纱的实际密度。