[发明专利]一种双栅线阵列基板、测试方法、显示面板和显示装置

权利要求书

1.一种对双栅线阵列基板进行测试的方法，其中，

所述双栅线阵列基板，包括多组双栅线、多条数据线及设置于由多组双栅线及多条数据线限定区域的多个像素对，

其中，每组所述双栅线包括分别用于传输第一扫描信号和第二扫描信号的两条栅线，在每组所述双栅线中两条栅线的相对方位相同，所述第一扫描信号和所述第二扫描信号时序不同，在同一时间传送所述第一扫描信号或所述第二扫描信号，

每个所述像素对包括两个像素单元，

其特征在于，任一组双栅线及与其相邻的两组双栅线和相邻的两条数据线限定区域内的两个所述像素对中，每个像素对中的两个像素单元分别连接所述相邻的两条数据线中相同的数据线，在数据线延伸方向上所述两个像素对中的相邻的两个像素单元分别连接所述相邻的两条数据线中不同的数据线；

在所述任一组双栅线延伸方向上相邻的两个所述像素对中，一个像素对中的两个像素单元所连接的数据线与另一个像素对中的两个像素单元所连接的数据线不同但是相邻；以及

在数据线延伸方向上相邻的两个像素单元分别连接与其各自相邻的传输扫描信号不同的栅线，在任一组双栅线延伸方向上相邻的两个像素单元分别连接与其各自相邻的传输扫描信号不同的栅线，

其中，沿所述数据线延伸方向对每个栅线顺序编号，所述编号从1开始，所述方法包括：

向编号为1+3i的栅线提供相同时序的扫描信号，i为自然数，并执行以下步骤：

(a)向相邻两条数据线中的一条数据线传输数据信号，若被驱动的像素单元和与所述被驱动的像素单元相邻的任何一个像素单元同时被驱动，则判定所述被驱动的像素单元和所述与所述被驱动的像素单元相邻的任何一个像素单元之间存在短路；

(b)中断向所述相邻两条数据线中的所述一条数据线传输数据信号，向所述相邻两条数据线中的另一条数据线传输数据信号，若被驱动的像素单元和与所述被驱动的像素单元相邻的任何一个像素单元同时被驱动，则判定所述被驱动的像素单元和所述与所述被驱动的像素单元相邻的任何一个像素单元之间存在短路；

中断提供任何数据信号和扫描信号，向编号为2+3i的栅线提供相同时序的扫描信号，并执行上述步骤(a)和(b)；以及

中断提供任何数据信号和扫描信号，向编号为3+3i的栅线提供相同时序的扫描信号，并执行上述步骤(a)和(b)。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，每个所述像素单元包括像素电极及薄膜晶体管；所述薄膜晶体管的栅极与所述栅线连接，源极与所述数据线连接，漏极与所述像素电极连接。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述像素电极具有不同的大小和/或形状。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述像素电极被布置成条状结构或三角形结构。

5.根据权利要求2-4中的任何一项所述的方法，其特征在于，所述薄膜晶体管为以下之一：无机薄膜晶体管，或有机薄膜晶体管。

6.根据权利要求1-4中的任何一项所述的方法，其特征在于，所述双栅线阵列基板还包括公共电极。