[发明专利]一种涂层下基体材料的鉴别方法及装置有效
申请号: | 201610176997.5 | 申请日: | 2016-03-25 |
公开(公告)号: | CN105866168B | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | 陈大鹏;李晓丽;张小龙;武敬力;张亚洲;雷浩 | 申请(专利权)人: | 北京环境特性研究所 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20;G01J5/00 |
代理公司: | 北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙) 11466 | 代理人: | 黄启行;张璐 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 降温曲线 灰阶图 下基体 鉴别 多个目标 红外热像图 红外热像仪 基体材料 目标表面 时间数据 光脉冲 涂敷 采集 检测 分析 | ||
【说明书】:
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