[发明专利]顺序型ICP发光分光分析装置和测定波长校正方法有效
| 申请号： | 201610181794.5 | 申请日： | 2016-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN106018383B | 公开（公告）日： | 2020-07-24 |
| 发明（设计）人： | 一宫丰 | 申请（专利权）人： | 日本株式会社日立高新技术科学 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 顺序 icp 发光 分光 分析 装置 测定 波长 校正 方法 | ||
【说明书】：
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