[发明专利]一种热防护结构脱粘缺陷检测方法及其检测系统在审

专利信息
申请号: 201610184701.4 申请日: 2016-03-28
公开(公告)号: CN105758868A 公开(公告)日: 2016-07-13
发明(设计)人: 杨扬;周正干;何伟 申请(专利权)人: 成都飞机工业(集团)有限责任公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610092*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 防护 结构 缺陷 检测 方法 及其 系统
【权利要求书】:

1.一种热防护结构脱粘缺陷检测方法,其特征在于:包括如下步骤:

步骤1,在试块的表面标识出相距为δx的P1和P2两点;

步骤2,用迈克尔逊干涉光路实现P1和P2两点图像错位使得P1和P2两点在CCD相机成像平面上照射到同一个点P;

步骤3,获得试块初始状态的散斑场相位分布图φ(x,y)

用激光照射在试块表面上,P1和P2两点在CCD相机成像平面相互干涉并产生散斑图,散斑图中任意像素点的光强表示为:

I1(x,y)=a(x,y)+b(x,y)cos[φ(x,y)]

式中,a(x,y)是背景光强,b(x,y)是散斑图调制幅值;

光强I1通过CCD相机获得,上式中仍然有a、b和相位φ三个量未知,因此分别使参考光光程变化90°、180°和270°,得到三副新的散斑图,分别得到这三幅新的散斑图中任意像素点的光强表示为:

I2(x,y)=a(x,y)+b(x,y)cos[φ(x,y)+π2]]]>

I3(x,y)=a(x,y)+b(x,y)cos[φ(x,y)+π]

I4(x,y)=a(x,y)+b(x,y)cos[φ(x,y)+3π2]]]>

联立上述四个方程,求解可得:

φ(x,y)=arctanI4(x,y)-I2(x,y)I1(x,y)-I3(x,y)]]>

步骤4,对试块进行加载;

步骤5,获得试块加载状态的散斑场相位分布图φ′(x,y)

采用步骤3中同样的方法,得到φ′(x,y);

步骤6,得到试块加载前后的相位差图:

Δ(x,y)=φ′(x,y)-φ(x,y)

步骤7,对相位差图进行相位解包处理,最终得到解包相位图,解包相位图即可反映出相应缺陷。

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