[发明专利]基于图形化Si衬底的LED外延片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201610187818.8 申请日: 2016-03-29
公开(公告)号: CN105591004B 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 张丽旸;程凯 申请(专利权)人: 苏州晶湛半导体有限公司
主分类号: H01L33/44 分类号: H01L33/44;H01L33/12;H01L33/16;H01L33/00
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 冯倩
地址: 215123 江苏省苏州市工业园区金鸡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 基于 图形 si 衬底 led 外延 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种基于图形化Si衬底的LED外延片的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:

S1、在Si衬底上刻蚀图形化结构,制作图形化Si衬底;

S2、在所述图形化Si衬底上生长Al2O3涂层;

S3、在所述Al2O3涂层上生长外延层;

S4、将图形化Si衬底作为牺牲层,对上述结构进行衬底剥离。

2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述外延层包括:

GaN或AlGaN成核层,生长于所述Al2O3涂层上。

3.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述外延层还包括第一缓冲层及发光结构层,依次生长于所述GaN或AlGaN成核层上,且所述制备方法还包括:

利用所述Al2O3涂层作为阻挡层,用湿法刻蚀的方法对所述图形化Si衬底的图形部分进行刻蚀,从而使衬底剥离,露出图形化的所述Al2O3涂层。

4.根据权利要求3所述的制备方法,其特征在于,所述外延层还包括:

应力缓冲层,位于所述第一缓冲层及所述发光结构层之间。

5.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S2具体为:

在所述图形化Si衬底上先镀上一层Al层,再通入氧等离子体形成所述Al2O3涂层。

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