[发明专利]用于在不确定集中选择采样空间的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201610193297.7 申请日: 2016-03-30
公开(公告)号: CN107292071A 公开(公告)日: 2017-10-24
发明(设计)人: 卫文娟;刘春辰;冯璐 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所11256 代理人: 王茂华,李峥宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 不确定 集中 选择 采样 空间 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种用于在不确定集中选择采样空间的方法,包括:

接收所述不确定集,所述不确定集是鲁棒优化中可以被赋予不确定参数的数值的集合;

获取所述不确定集中的违背与所述鲁棒优化相关联的约束函数的不确定参数的基准采样点;以及

基于所述基准采样点与所述不确定集之间的空间位置关系,在所述不确定集中选择用于进行采样的采样空间。

2.根据权利要求1所述的方法,其中基于所述基准采样点与所述不确定集之间的空间位置关系,在所述不确定集中选择用于进行采样的采样空间包括:

基于所述基准采样点与所述基准采样点在所述不确定集中的子空间内的映射点之间的距离,选择所述子空间以作为所述采样空间。

3.根据权利要求2所述的方法,其中基于所述距离来选择所述子空间以作为所述采样空间包括以下中的任一项:

按照所述距离降序的顺序,选择与所述距离相对应的子空间;以及

按照所述距离升序的顺序,选择与所述距离相对应的子空间。

4.根据权利要求3所述的方法,其中按照所述距离降序的顺序,选择与所述距离相对应的子空间包括以下中的任一项:

将所述基准采样点的全部坐标取反以获得与所述基准采样点距离最远的最远映射点,以及选择所述最远映射点所在的子空间;以及

将所述基准采样点的部分坐标取反以获得与所述基准采样点距离次远的次远映射点,以及选择所述次远映射点所在的子空间。

5.根据权利要求3所述的方法,其中按照所述距离升序的顺序,选择与所述距离相对应的子空间包括:

将所述基准采样点的一个坐标取反以获得所述基准采样点附近的相邻映射点,以及选择所述相邻映射点所在的子空间。

6.根据权利要求1-5中的任一项所述的方法,进一步包括:将所 选择的采样空间内的对应于所述基准采样点的映射点标识为采样点。

7.根据权利要求6所述的方法,进一步包括:基于所述基准采样点、采样点、以及所述不确定集之间的空间位置关系,在所述不确定集中选择用于进行进一步采样的另一采样空间。

8.根据权利要求7所述的方法,其中在所述不确定集中选择用于进行进一步采样的另一采样空间包括:

基于所述基准采样点与所述基准采样点在所述不确定集中的子空间内的映射点之间的距离、以及所述采样点与所述映射点之间的距离,选择所述子空间以作为所述另一采样空间。

9.根据权利要求1-5中的任一项所述的方法,其中获取所述不确定集中的违背与所述鲁棒优化相关联的约束函数的不确定参数的基准采样点包括:基于最大约束违背分析确定所述基准采样点。

10.根据权利要求1-5中的任一项所述的方法,进一步包括以下中的至少任一项:

将所述采样空间内的对应于所述基准采样点的映射点标识为第二采样点;以及

在所述采样空间中执行均匀采样以获取第二采样点。

11.根据权利要求10所述的方法,进一步包括:

至少基于所述基准采样点和所述第二采样点,执行所述鲁棒优化。

12.根据权利要求1-5中的任一项所述的方法,进一步包括:

获取所述不确定集中的违背与所述鲁棒优化相关联的第二约束函数的不确定参数的第二基准采样点;以及

基于所述第二基准采样点与所述不确定集之间的空间位置关系,在所述不确定集中选择用于进行采样的第二采样空间。

13.根据权利要求12所述的方法,进一步包括:

至少基于所述采样空间和所述第二采样空间中的采样点,执行所述鲁棒优化。

14.一种用于在不确定集中选择采样空间的装置,包括:

接收模块,配置用于接收所述不确定集,所述不确定集是鲁棒优化中可以被赋予不确定参数的数值的集合;

获取模块,配置用于获取所述不确定集中的违背与所述鲁棒优化相关联的约束函数的不确定参数的基准采样点;以及

选择模块,配置用于基于所述基准采样点与所述不确定集之间的空间位置关系,在所述不确定集中选择用于进行采样的采样空间。

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