[发明专利]用于GaN装置的基于导电性的选择性蚀刻和其应用有效
申请号: | 201610206389.4 | 申请日: | 2011-01-27 |
公开(公告)号: | CN105821435B | 公开(公告)日: | 2018-10-16 |
发明(设计)人: | 荣格·韩;孙乾;张宇 | 申请(专利权)人: | 耶鲁大学 |
主分类号: | C25B1/00 | 分类号: | C25B1/00;C25F3/12;C30B29/40;C30B33/10;H01L21/02;H01L21/306;H01L21/3063;H01L33/00;H01L33/16;H01L33/32 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 李春秀 |
地址: | 美国康*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 gan 装置 基于 导电性 选择性 蚀刻 应用 | ||
【权利要求书】:
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