[发明专利]电子装置及其检测方法

说明书

一种电子装置及其检测方法。此电子装置包括处理器、平台控制器以及辅助控制器。处理器包括符合第一标准的第一总线。平台控制器耦接处理器，且处理器通过平台控制器或是第一总线以通过第一标准来连接电子装置的周边元件。辅助控制器通过第一总线以耦接处理器，且处理器通过第二总线以及平台控制器以控制所述辅助控制器。辅助控制器接收检测信号，并依据检测信号以通过符合第一标准的第一总线来检测电子装置中的处理器、平台控制器或至少一周边元件。

技术领域

本发明涉及一种电子装置以及电子装置的检测方法。

背景技术

基板管理控制器(Baseboard Management Controller，BMC)用于管理伺服器系统。一般而言，为了监控电脑系统的内部运作是否正常，使用者可利用配置于主机板上的BMC来检测电脑系统。常见的方式包括远端控制 BMC，以检测电脑系统中用以感测各个元件运作情况的各个感测器的读值 (例如：风扇的转速或者处理器的温度等)。然而，对于电脑系统中BMC 无法直接存取的元件，在检测时就必须通过作业系统来进行诊断测试，再经由平台控制集线器(Platform Controller Hub，PCH)将检测结果回传给 BMC。在这样的情况之下，如果中央处理器(Central Processing Unit，CPU) 或PCH等硬件发生故障的话，便完全无法对该些元件进行检测。因此，厂商必须要找寻更佳的技术及方法来实现对电脑系统进行远端检测。

发明内容

本发明提供一种电子装置及其检测方法，通过将辅助控制器(如，基板管理控制器)与符合第一标准(如，快捷外设互联标准)的总线相互连接，便可通过第一标准来远端检测电子装置中的各个周边元件，从而增加辅助控制器的检测范围。

本发明的电子装置包括处理器、平台控制器以及辅助控制器。处理器包括符合第一标准的第一总线。平台控制器耦接处理器，且处理器通过该平台控制器或是该第一总线以通过该第一标准来连接该电子装置的至少一周边元件。辅助控制器通过第一总线以耦接处理器，且处理器通过第二总线以及平台控制器以控制辅助控制器。辅助控制器接收检测信号，并依据检测信号以通过符合第一标准的第一总线来检测电子装置中的处理器、平台控制器或至少一周边元件。

本发明的电子装置的检测方法适用于电子装置。电子装置包括处理器、平台控制器以及辅助控制器。此方法包括以下步骤。接收检测信号，其中辅助控制器通过符合第一标准的第一总线以耦接处理器，且处理器通过第二总线以及平台控制器以控制辅助控制器。依据检测信号以通过符合第一标准的第一总线来检测电子装置中的处理器、平台控制器或至少一周边元件。回应检测结果。

基于上述，本发明实施例将电子装置的辅助控制器额外连接到符合第一标准(如，快捷外设互联标准)的第一总线以耦接处理器及平台控制器，并将辅助控制器设定成符合第一标准的终端，藉此便可通过符合第一标准的第一总线以及点对点交易功能来检测电子装置中的各个元件(如，处理器、平台控制器或周边元件)。据此，可增加辅助控制器的检测范围。换句话说，当处理器或平台控制器发生故障时，本发明的电子装置便可通过辅助控制器通过符合第一标准的第一总线来检测电子装置中的各个元件，从而强化远端检测的功能。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合说明书附图作详细说明如下。

附图说明

图1绘示本发明一实施例的电子装置的方块图。

图2绘示本发明一实施例的电子装置的检测方法的流程图。

图3绘示本发明另一实施例的电子装置的方块图。

附图标记说明：

100、300：电子装置

101、301：辅助控制器

103、303：处理器

105、305：平台控制器