[发明专利]一种可复位小型激光干涉仪有效
申请号: | 201610210821.7 | 申请日: | 2016-04-07 |
公开(公告)号: | CN105783705B | 公开(公告)日: | 2018-09-07 |
发明(设计)人: | 刘雪松;闫忠杰;潘海博 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01B9/02 | 分类号: | G01B9/02 |
代理公司: | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人: | 范光晔 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 复位 小型 激光 干涉仪 | ||
一种可复位小型激光干涉仪,所述光纤准直器的输入端用于与光纤连接,光纤准直器的输出端输出准直激光束;所述准直器定位管的一端与安装面板和准直器角度指针相连接,准直器定位管的另一端与镜筒夹片相连接;所述准直器角度指针固定在准直器定位管上并且紧靠安装面板,准直器角度指针的指向与光纤准直器轴线方向一致;所述安装面板为一个U型金属板,安装面板的下方分布六个钢珠,六个钢珠的位置与干涉仪底座的六个定位孔相一致;所述相机滑台由滑槽、滑块及调整手柄三部分组成,滑槽固定在安装面板上,滑块与相机连接板相连接,通过调整手柄可控制滑台沿滑槽滑动,所述相机连接板,用于连接相机滑台和工业CCD相机。
技术领域
本发明涉及一种可复位小型激光干涉仪,属于激光干涉仪技术领域。
背景技术
激光散斑干涉技术,又称为电子散斑干涉技术,是一种基于光学的、全场的、非接触的无损测量与检测技术。当一束相干光照射在平整粗糙的反光表面时,漫反射的光波相互叠加,就会形成明暗相间的斑点状的分布状态,也就是散斑场。散斑场记录着物体表面的几何信息,利用适当的光路和处理技术,可对表面位移、应变、粗糙度、三维形貌等进行测量与检测。
残余应力是存在于焊接接头的一种材料内部应力,具有峰值水平高、梯度大的特点。目前常用的残余应力测量手段是电测法,就是在材料被测位置表面张贴电阻应变片,在应变花中心处钻取一定深度的小孔,利用电阻应变仪读取钻孔后的小孔附近位置应变信息,再利用材料力学公式计算获得被测点的残余应力值。这种方法所测量残余应力的精度受到应变片张贴质量、钻孔位置的精确程度、电阻应变仪输入电压的稳定性、被测环境电磁干扰的强弱等多种因素的影响,因此往往出现较大的测试误差。
由于激光散斑干涉测量技术是一种精确的光学计量技术,将这项技术代替电测法来测量残余应力并开发出相应的装置,将有效减少电测法测试误差来源,大幅提高测试精度。采用激光散斑法测试材料残余应力的基本原理和方法是,利用激光干涉装置在被测材料位置处制造一个散斑场,利用光学相机采集钻孔前的散斑图像,利用钻孔机在被测位置处钻取一个小孔,再利用光学相机采集钻孔后的散斑图像,将钻孔前后的两个散斑图像输入计算机中并转换为相应的数字信号,在计算机中对其分析处理提取小孔附近应变信息,利用材料力学应力应变数学关系计算出相应的残余应力数值。可见,相比于对材料工作应力应变的测量,残余应力测试对干涉仪的要求是,该干涉仪测试过程中可移走便于钻孔机钻孔操作,而钻孔完成后又能够回复到钻孔前的位置,且回复原位的位置精度要达到微米数量级。现有的干涉仪难以满足上述要求。
发明内容
本发明的目的是为了解决上述现有技术存在的问题,即相比于对材料工作应力应变的测量,残余应力测试对干涉仪的要求是,该干涉仪测试过程中可移走便于钻孔机钻孔操作,而钻孔完成后又能够回复到钻孔前的位置,且回复原位的位置精度要达到微米数量级。现有的干涉仪难以满足上述要求。进而提供一种可复位小型激光干涉仪。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的:
一种可复位小型激光干涉仪,包括:干涉仪底座、光纤准直器、镜筒夹片、准直器定位管、准直器角度指针、安装面板、相机滑台、相机连接板、工业CCD相机和II型结构的金属框架,
所述干涉仪底座的前端为一个U型金属框,通过位于干涉仪底座上表面的六个定位孔与安装面板相连接,干涉仪底座的后端为一个II型结构的金属框架;
所述光纤准直器的输入端用于与光纤连接,光纤准直器的输出端输出准直激光束;
所述镜筒夹片用于连接光纤准直器和准直器定位管;
所述准直器定位管的一端与安装面板和准直器角度指针相连接,准直器定位管的另一端与镜筒夹片相连接;
所述准直器角度指针固定在准直器定位管上并且紧靠安装面板,准直器角度指针的指向与光纤准直器轴线方向一致;
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