[发明专利]测量粉体振实密度的振捣方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及到测量粉体振实密度领域，特别是涉及到一种测量粉体振实 密度的振捣方法和系统。

背景技术

粉体密度因其堆积方式的不同分为松装密度和振实密度，振实密度是指 一定质量的粉体装填在特定容器，以一定的频率和幅度进行振动，当粉体的 体积不再减少时读出粉体的体积，然后用粉体的质量除以该体积就得到振实 密度。

现有测量粉体振实密度一般采用BT-303振实密度测量仪，其是一种专门 测量粉体振实密度的仪器，符合中国国家标准GB/T21354和国际标准ISO3953， 是一种通用的振实密度仪。BT-303振实密度测量仪可三个测量同时进行，减 少重复实验所需时间，是一种操作简单，经久耐用、测量准确的粉体振实密 度测量仪。其基本工作过程是将粉体量筒固定在机械振动装置上，振动电机 带动机械振动装置上下振动，装有粉体的刻度量筒随着机械驱动装置而振动， 随着振动次数增加，量筒里的粉体逐渐振实，振动次数达到设定次数后，振 动装置停止振动，读出刻度试管的体积，然后计算出粉体的振实密度，在每 次振动结束后，一般还会转转动一定角度，使粉体振动过程中受力更加均匀。

现有技术测量粉体振实密度的缺点是，粉体经振捣后，上层部分的粉体 因表面分子或原子之间的库仑力和范德华力作用而产生的颗粒团聚，使粉体 凝聚成一些小颗粒甚至更大的颗粒，由此形成的颗粒堆积会导致上表面振捣 不实以及振捣后上表面粉体分布有倾斜，从而会使人为读数的误差更大，最 终影响测量粉体的振实密度不精确的技术问题。

发明内容

本发明的主要目的为提供一种振捣后上表面粉体分布水平的测量粉体振 实密度的振捣方法和系统。

为了实现上述发明目的，本发明提出一种测量粉体振实密度的振捣方法， 包括：

对装有一定质量粉体的量筒按照指定频率和幅度进行上下振动；

通过超声波冲击量筒内上表面的粉体，破坏受冲击粉体之间形成的粉体 团；

当粉体在量筒内的高度保持稳定时，停止对量筒内的粉体进行振动和超 声波冲击。

进一步地，所述对装有一定质量粉体的量筒按照指定频率和幅度进行上 下振动的步骤，包括：

当量筒上下振动指定次数后，量筒水平自转指定角度。

进一步地，所述对装有一定质量粉体的量筒按照指定频率和幅度进行上 下振动的步骤之前，包括：

将一底面为平面的压片伸入量筒内，该压片的顶面连接有弹性件，弹性 件的另一端连接长度可调的支杆，调节支杆使压片始终压迫于量筒内粉体的 上表面；其中，所述弹性件的伸缩量大于或等于量筒上下振动时的振幅。

本发明还提供一种测量粉体振实密度的振捣系统，包括：

振动装置，用于对装有一定质量粉体的量筒按照指定频率和幅度进行上 下振动；

超声冲击装置，用于通过超声波冲击量筒内上表面的粉体，破坏受冲击 粉体之间形成的粉体团；

控制装置，用于当粉体在量筒内的高度保持稳定时，控制所述振动装置 和超声冲击装置停止对量筒内的粉体进行振动和超声波冲击。

进一步地，所述振动装置，包括：

转动模块，用于当量筒上下振动指定次数后，量筒水平自转指定角度。

进一步地，所述测量粉体振实密度的振捣系统还包括压紧装置，用于将 一底面为平面的压片伸入量筒内，该压片的顶面连接有弹性件，弹性件的另 一端连接长度可调的支杆，调节支杆使压片始终压迫于量筒内粉体的上表面； 其中，所述弹性件的伸缩量大于或等于量筒上下振动时的振幅。

进一步地，所述压片的直径比量筒的直径小1-3毫米。

进一步地，所述振动装置包括多个量筒固定位，分别做粉体振捣动作。

进一步地，所述超声冲击装置包括多个超声波探头，分别对应指定的量 筒设置于振动装置上。

进一步地，所述多个超声波探头共用同一超声接口；

所述超声冲击装置包括超声波发生器，所述超声波发生器通过一超声波 探头线连接于所述超声接口。