[发明专利]具有形成在有纹理的表面上的接触部的半导体发光器件在审

专利信息
申请号: 201610215280.7 申请日: 2010-05-27
公开(公告)号: CN105720177A 公开(公告)日: 2016-06-29
发明(设计)人: J.E.埃普勒 申请(专利权)人: 飞利浦拉米尔德斯照明设备有限责任公司;皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: H01L33/54 分类号: H01L33/54;H01L33/62
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 初媛媛;景军平
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 具有 形成 纹理 表面上 接触 半导体 发光 器件
【权利要求书】:

1.一种半导体器件,包括:

半导体结构,所述半导体结构包括:

布置在n型区域与p型区域之间的发光层;

n接触区域和p接触区域,其中所述n接触区域的横截面包括其中移除了部分所述发光层和所述p型区域以暴露所述n型区域的多个第一区域,其中所述多个第一区域由其中所述发光层和所述p型区域仍存在于所述器件中的多个第二区域分隔,并且其中所述多个第二区域包括半导体材料的柱;以及

布置在所述n接触区域与所述p接触区域之间的沟槽;

在所述p接触区域中的半导体结构上形成的第一金属接触部;以及

在所述n接触区域中的半导体结构上形成的第二金属接触部;

其中,所述第二金属接触部与所述n接触区域中的第二区域中的至少一个电接触,并且

其中,在所述第一金属接触部上形成多个接触部凸起,并且所述第二金属接触部包括多个接触部凸起,并且,其中,位于器件的不同部分处的接触部凸起的特性或布置具有不同属性。

2.根据权利要求1所述的半导体器件,其中所述沟槽将所述第一金属接触部与所述第二金属接触部电隔离。

3.根据权利要求1所述的半导体器件,其中所述柱相隔1微米和5微米之间。

4.根据权利要求1所述的半导体器件,其中所述第二金属接触部的横截面包括由谷分隔的多个小丘。

5.根据权利要求1所述的半导体器件,还包括布置在所述沟槽的侧壁上的绝缘层。

6.一种用于制造半导体器件的方法,包括:

对半导体结构进行蚀刻,所述半导体结构包括布置在n型区域与p型区域之间的发光层,以形成:

n接触区域,其中所述n接触区域的横截面包括其中移除了部分所述发光层和p型区域以暴露所述n型区域的多个第一区域,其中所述多个第一区域由其中所述发光层和p型区域仍存在于所述器件中的多个第二区域分隔,并且其中所述第二区域包括半导体材料的柱;以及

布置在所述n接触区域与p接触区域之间的沟槽;

在所述p接触区域上形成第一金属接触部;以及

在所述n接触区域上形成第二金属接触部;

其中所述第二金属接触部与所述n接触区域的至少一个第二区域电接触,并且

其中所述方法还包括在所述第一金属接触部上形成多个接触部凸起,并且在所述第二金属接触部中形成多个接触部凸起,并且,其中,位于器件的不同部分处的接触部凸起的特性或布置具有不同属性。

7.根据权利要求6所述的用于制造半导体器件的方法,其中接触部凸起是金属凸起。

8.根据权利要求7所述的用于制造半导体器件的方法,还包括:将所述半导体结构接合至底座,其中接合包括使所述多个金属凸起塌陷,从而使塌陷的凸起将半导体器件电连接且机械连接至所述底座,并且其中所述金属凸起在接合期间仍处于固相。

9.根据权利要求7所述的用于制造半导体器件的方法,其中所述多个金属凸起包括具有小于150GPa的杨氏模量的金属。

10.根据权利要求8所述的用于制造半导体器件的方法,其中:

所述多个金属凸起中的每一个具有1微米和5微米之间的宽度以及1微米和5微米之间的高度;以及

最近相邻凸起相距4微米和8微米之间。

11.根据权利要求6所述的用于制造半导体器件的方法,还包括:

利用绝缘层来涂覆所述器件;以及

从所述n接触区域和所述p接触区域移除所述绝缘层,使得所述绝缘层仍存在于所述沟槽的侧壁上。

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