[发明专利]激光光谱试验的实时联动控制与数据同步采集装置

说明书

本发明公开了一种激光光谱试验的实时联动控制与数据同步采集装置，包括上位机，所述的上位机对激光器、板卡进行控制监测，并对微质量仪、质谱计、波长计进行数据整合，板卡中包括触发系统、采集系统，所述的板卡与激光器、波长计相连，所述波长计对激光器发出的激光光束进行测量，所述质谱计、微质量仪对样品束流进行测量。本发明通过触发系统实现激光器、波长计、微质量仪、质谱计的联动控制，时间线明确合理，实现了质谱信号与波长数据间的时间轴同步显示，实现了质谱信号、样品质量及波长数据间的时间轴同步显示，保证了实验数据的准确性，提高了实验效率。

技术领域

本发明属于一种控制采集装置，具体涉及一种激光光谱试验的实时联动控制与数据同步采集装置。

背景技术

激光光谱实验的基本原理是：原子化炉产生原子蒸气与激光器产生的可调谐激光相互作用，作用后形成的离子通过质谱测量装置进行质谱分析，从而研究激光与物质相互作用机理，探索原子的内部能级结构等信息。

激光光谱实验中涉及的主要操作有：激光器的设定与调节、激光波长的实时采集、原子蒸气参数的实时采集、质谱测量装置的数据实时采集等。

激光光谱实验中关键的参数包括：激光波长、原子蒸气密度、质谱谱图数据等。庞大的实验系统、繁杂的实验操作及海量的实验数据，在无多设备实时联动及多数据同步采集机制的情况下，各设备需要多人同时操作，各数据的同步性需要后期人工比对，准确性难以保证，同时，繁琐复杂的实验过程也大大降低了激光光谱实验的实验效率。

发明内容

本发明为解决现有技术存在的问题而提出，其目的是提供一种激光光谱试验的实时联动控制与数据同步采集装置。

本发明的技术方案是：一种激光光谱试验的实时联动控制与数据同步采集装置，包括上位机，所述的上位机控制激光器、板卡，并对微质量仪、质谱计、波长计进行数据整合，板卡中包括触发系统、采集系统，所述的板卡与激光器、波长计相连，所述波长计对激光器发出的激光光束进行测量，所述质谱计、微质量仪对样品束进行测量。

所述的触发系统包含FPGA现场可编程门阵列。

所述的采集系统包含ARM处理器。

所述的微质量仪为石英晶体微质量测量仪。

所述的板卡通过串口服务器与上位机相连。

本发明通过触发系统实现激光器、波长计、微质量仪、质谱计的联动控制，时间线明确合理，实现了质谱信号与波长数据间的时间轴同步显示，实现了质谱信号、样品质量及波长数据间的时间轴同步显示，保证了实验数据的准确性，提高了实验效率。

附图说明

图1 是本发明的整体连接示意图；

其中：

1 上位机 2 板卡

3 触发系统 4 采集系统

5 波长计 6 质谱计

7 微质量仪 8 激光器

9 激光光束。

具体实施方式

以下，参照附图和实施例对本发明进行详细说明：

如图1所示，一种激光光谱试验的实时联动控制与数据同步采集装置，包括上位机1，其特征在于：所述的上位机1对激光器8、板卡2进行控制监测，并对微质量仪7、质谱计6、波长计5进行数据整合，板卡2中包括触发系统3、采集系统4，所述的板卡2与激光器8、波长计5相连，所述波长计5对激光器8发出的激光光束9进行测量，所述质谱计6、微质量仪7对样品束进行测量。