[发明专利]一种功率半导体模块及其自保护方法有效

专利信息
申请号: 201610216853.8 申请日: 2016-04-08
公开(公告)号: CN107275394B 公开(公告)日: 2020-08-14
发明(设计)人: 刘国友;覃荣震;黄建伟;吴义伯;余伟;戴小平 申请(专利权)人: 株洲中车时代电气股份有限公司
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L23/58
代理公司: 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 代理人: 赵洪
地址: 412001 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 功率 半导体 模块 及其 保护 方法
【权利要求书】:

1.一种功率半导体模块,其特征在于,包括:

衬板或基板(9);

形成于所述衬板或基板(9)表面之上的金属化区(7),所述金属化区(7)包括与发射极母排(13)相连的第一金属化区(11),以及与集电极母排(14)的第二金属化区(12);

与所述金属化区(7)相连的功率半导体芯片(3);

所述功率半导体模块(1)还包括设置在所述第一金属化区(11)与第二金属化区(12)之间,或所述功率半导体芯片(3)的发射极母排(13)与集电极母排(14)之间的功能单元(10);

当所述功率半导体模块(1)正常工作时,电流从所述集电极母排(14)经所述第二金属化区(12)流至所述功率半导体芯片(3),再经所述第一金属化区(11)流至发射极母排(13);

当所述功率半导体芯片(3)工作时的发热使得所述功率半导体模块(1)的内部上升至一定温度时,从所述集电极母排(14)流过的电流通过所述功能单元(10)直接流至所述发射极母排(13),而不再流过所述功率半导体芯片(3);

所述功能单元(10)设置在所述第一金属化区(11)与第二金属化区(12)之间,所述功能单元(10)包括:

从下至上依次设置在位于所述第一金属化区(11)与第二金属化区(12)之间的所述衬板或基板(9)上的磁体(107)、磁性金属片(109)和弹簧(104),所述弹簧(104)的一端与所述磁性金属片(109)相连;

设置在所述第一金属化区(11)与第二金属化区(12)之间的导流条(103),所述导流条(103)的一端与所述第一金属化区(11)相连,所述导流条(103)的另一端与所述第二金属化区(12)相连,所述导流条(103)同时通过所述磁性金属片(109)的上部;

设置在所述导流条(103),以及所述磁体(107)、磁性金属片(109)和弹簧(104)外部的腔体(102),所述弹簧(104)的另一端与所述腔体(102)的顶部内侧相连,所述导流条(103)在所述腔体(102)与所述磁性金属片(109)之间的弹簧(104)连接处断开,所述导流条(103)的断开距离小于所述磁性金属片(109)的宽度;

设置在所述腔体(102)外部的外罩(101);

通过所述磁体(107)的吸引、释放,以及所述弹簧(104)的伸缩作用,使得所述磁性金属片(109)可选择地导通或断开所述导流条(103)的连接。

2.根据权利要求1所述的功率半导体模块,其特征在于:当所述功率半导体模块(1)正常工作时,所述磁性金属片(109)被所述磁体(107)吸附,所述弹簧(104)处于拉伸状态,所述磁性金属片(109)的上表面低于所述导流条(103)的下表面,所述磁性金属片(109)不与所述导流条(103)接触,所述导流条(103)不通电流;随着所述功率半导体芯片(3)工作时的发热,所述功率半导体模块(1)内部的温度上升,当温度到达所述磁性金属片(109)的居里温度时,所述磁性金属片(109)丧失磁性,并不再被所述磁体(107)吸引;所述磁性金属片(109)在所述弹簧(104)的作用力下被向上拉伸,直至所述磁性金属片(109)被所述导流条(103)阻挡,此时所述弹簧(104)仍然处于拉伸状态,所述磁性金属片(109)接触连接在所述导流条(103)的下表面,所述导流条(103)的断开处被所述磁性金属片(109)连通,从所述集电极母排(14)流过的电流经过所述导流条(103)直接流至所述发射极母排(13),而不再流经所述功率半导体芯片(3),以防止所述功率半导体模块(1)或功率半导体芯片(3)过热并超出最大工作温度而失效;当所述功率半导体模块(1)的温度下降至低于所述磁性金属片(109)的居里温度时,所述磁性金属片(109)的磁性得到恢复,在所述磁体(107)的吸引下,所述磁性金属片(109)被吸附,所述弹簧(104)向下拉伸,所述导流条(103)与所述磁性金属片(109)的连接断开,电流重新流经所述功率半导体芯片(3),所述功率半导体模块(1)恢复至正常工作状态。

3.根据权利要求1或2所述的功率半导体模块,其特征在于:当所述功率半导体模块(1)内部的功率半导体芯片(3)失效时,与所述功率半导体芯片(3)相连的容性或感性负载通过所述导流条(103)释放存储的电能,从而避免所述功率半导体芯片(3)发生二次损坏。

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