[发明专利]可注射高分子聚合物测量表面开口缺陷深度的方法及其装置有效
申请号: | 201610217407.9 | 申请日: | 2016-04-08 |
公开(公告)号: | CN105651233B | 公开(公告)日: | 2018-05-18 |
发明(设计)人: | 罗传旭;吴章勤;艾川;闵捷;孙成刚 | 申请(专利权)人: | 云南电力试验研究院(集团)有限公司 |
主分类号: | G01B21/18 | 分类号: | G01B21/18 |
代理公司: | 昆明大百科专利事务所 53106 | 代理人: | 何健 |
地址: | 650217 云南省昆明*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 注射 高分子 聚合物 测量 表面 开口 缺陷 深度 方法 及其 装置 | ||
可注射高分子聚合物测量表面开口缺陷深度的方法,包含三个步骤,1、采用便携式仪器通过分别注射高分子单体、引发剂、交联剂和促进剂进入表面开口缺陷中;2、所述单体发生聚合反应,生成具有一定弹性和强度的体型高分子聚合物;3、从开口缺陷表面采取卷曲提拉措施从外部将其整个聚合物抽取出来并间接准确测量表面开口缺陷的深度。本发明的有益结果:设计了可注射高分子聚合物测量表面开口裂纹深度的技术。可以使得无损检测人员在进行现场表面开口缺陷(如裂纹)探伤时可准确地在现场测量出表面开口缺陷(如裂纹)的深度,这对工程上描述表面开口缺陷的三维尺寸、改进材质配方、制定缺陷处理检修计划、丰富无损检测技术的内涵具有重要意义。
技术领域
本发明涉及全新的可注射高分子聚合物测量表面开口缺陷(如裂纹)深度的方法及其装置,用于表面开口缺陷(如裂纹)深度的测量。
背景技术
常规的无损检测方法有超声波检测、射线检测、磁粉检测、渗透检测和涡流检测等方法。一般来说,特种设备的表面和近表面的缺陷的危害程度较内部缺陷要大得多,在无损检测发现的诸多表面开口缺陷中,表面开口裂纹是危害性最大的缺陷。因此在无损检测过程中,经常使用渗透检测、磁粉检测和涡流检测来检测表面开口缺陷。
发现表面开口缺陷(如裂纹)后,设备归属单位往往希望无损检测人员能够测量出表面开口缺陷(如裂纹)的深度,因为深度值对于设备归属单位和检修单位具有极大的参考意义,第一,深度值大小可以用来考察和衡量材料与环境的相容性,以便于厂商以后设计和生产更好的产品;第二,知道深度值后便于指定检修方案,比如宽而浅的表面开口缺陷可以通过打磨去除,而深度较大的表面开口缺陷(如裂纹)往往需要采取挖补甚至返厂处理。但是这三种常规表面无损检测方法均不能测量出表面开口缺陷(如裂纹)的深度。
现实中,发现表面开口缺陷(如裂纹)后检修单位往往无法确定缺陷深度,故而需要打磨一些深度之后再进行一次表面无损检测,再打磨再检测直至裂纹被完全打磨掉,这样既费时又费力。最糟糕的情况是无损检测人员完成合同规定的内容而离开现场后,检修单位在打磨之后发现原来肉眼可见的裂纹已变得不太明显,就以为裂纹已经打磨干净而停止打磨,实际上裂纹只是变得窄至肉眼看上去不太明显,但如果仔细辨认或者采取表面无损检测方法来就检测的话就可以发现裂纹仍然存在。这种情况下,设备如果继续运行,由于裂纹处应力非常大,裂纹可迅速扩展,将可能产生极其严重的人身和财产危害。
总而言之,现有的无损检测方法无法满足人们对于表面开口缺陷(如裂纹)深度测量的迫切要求。
为了落实国家对于安全生产的严格要求,解决在工作现场发现表面开口缺陷(如裂纹)之后难以测定其深度的困难,本发明提供了一种可注射高分子聚合物测量表面开口裂纹深度的技术,将高分子材料合成技术与无损检测技术进行结合,采取三步法,将表面开口缺陷(如裂纹)的深度用高分子材料的纵向长度间接准确表示。采用的便携式仪器布局合理,结构紧凑,设计合理,使用操作方便,整机的重量较轻,携带方便。
发明内容
本发明的目的是在于实现表面开口缺陷(如裂纹)的无损检测时,能够在现场通过可注射高分子聚合物测量表面开口裂纹深度的仪器技术来测量缺陷深度。如果表面开口缺陷是开口裂纹等面积型缺陷时该高分子聚合物为高分子弹性薄物,如表面开口缺陷为针孔等体积型缺陷时该高分子聚合物为具有普通密度的弹性体。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
1、可注射高分子聚合物测量表面开口缺陷(如裂纹)深度的方法,其特征是:包含三个步骤,第一步,采用便携式仪器通过分别注射高分子单体、引发剂、交联剂和促进剂进入表面开口缺陷(如裂纹)中;第二步,所述单体发生聚合反应,生成具有一定弹性和强度的体型高分子聚合物;第三步,从开口缺陷表面采取卷曲提拉等措施从外部将其整个聚合物抽取出来;即可通过测量高分子聚合物的纵向长度来间接准确测量表面开口缺陷(如裂纹)的深度。
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