[发明专利]一种计算储层裂缝孔隙度的方法有效
申请号: | 201610236122.X | 申请日: | 2016-04-15 |
公开(公告)号: | CN107301255B | 公开(公告)日: | 2021-01-05 |
发明(设计)人: | 李浩;王丹丹;冯琼;魏修平 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;E21B49/00 |
代理公司: | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人: | 孙向民 |
地址: | 100728 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 计算 裂缝 孔隙 方法 | ||
1.一种计算储层裂缝孔隙度的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
将声波AC曲线和密度DEN曲线转换成声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线;
校正声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线;
根据校正后的声波孔隙度PAC值与密度孔隙度PDEN值的相对大小识别高角度缝和低角度缝;
建立声波AC、密度DEN与电阻率Rt的函数关系;
确定高角度缝函数和低角度缝函数中的参数值;
求解储层裂缝孔隙度;
其中,利用以下公式建立声波AC与电阻率Rt的函数关系:
Rt=e·ACf其中,e、f为常数;
其中,AC对应的电阻率为双侧向中的深侧向电阻率RD,即Rt对应RD;
其中,分别读取高角度缝和低角度缝所处深度的AC、RD值,建立交会图版,分别拟合高角度缝和低角度缝的AC与RD的指数函数关系,从而确定高角度缝的利用AC重构深侧向电阻率的函数关系与低角度缝的利用AC重构深侧向电阻率的函数关系,也即确定高、低角度缝公式中的e、f值;
其中,利用以下公式建立密度DEN与电阻率的函数关系:
Rt=n·DENm其中,m、n为常数;
其中,DEN对应的电阻率为双侧向中的浅侧向电阻率RS,即Rt对应RS;
其中,分别读取高角度缝和低角度缝所处深度的DEN、RS值,建立交会图版,分别拟合高角度缝和低角度缝的DEN与RS的指数函数关系,从而确定高角度缝的利用DEN重构深侧向电阻率的函数关系与低角度缝的利用DEN重构深侧向电阻率的函数关系,也即确定高角度缝和低角度缝公式中的m、n值;
其中,将声波AC、密度DEN转换的电阻率带入Sibbit模型,求解得储层裂缝孔隙度值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,利用威力时间公式,将声波AC、密度DEN转换成声波孔隙度PAC、密度孔隙度PDEN:
其中,ACma表示纯岩石地层声波骨架值180;ACf表示纯岩石地层空隙中全为水时的声波值620;DENma表示纯岩石地层骨架的密度值;DENf表示纯岩石地层孔隙中全为水时的密度值。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述校正声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线的步骤包括:
调节测井测量的声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线值的左右刻度,使声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线在已知干层或者水层处重叠;或者
当没有被测试结论证实的确定的干层或者水层的情况下,选择高阻致密层,调节两条曲线的左右刻度,使其在致密层处重叠。
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