[发明专利]一种计算储层裂缝孔隙度的方法有效

专利信息
申请号: 201610236122.X 申请日: 2016-04-15
公开(公告)号: CN107301255B 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: 李浩;王丹丹;冯琼;魏修平 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;E21B49/00
代理公司: 北京思创毕升专利事务所 11218 代理人: 孙向民
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 计算 裂缝 孔隙 方法
【权利要求书】:

1.一种计算储层裂缝孔隙度的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

将声波AC曲线和密度DEN曲线转换成声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线;

校正声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线;

根据校正后的声波孔隙度PAC值与密度孔隙度PDEN值的相对大小识别高角度缝和低角度缝;

建立声波AC、密度DEN与电阻率Rt的函数关系;

确定高角度缝函数和低角度缝函数中的参数值;

求解储层裂缝孔隙度;

其中,利用以下公式建立声波AC与电阻率Rt的函数关系:

Rt=e·ACf其中,e、f为常数;

其中,AC对应的电阻率为双侧向中的深侧向电阻率RD,即Rt对应RD;

其中,分别读取高角度缝和低角度缝所处深度的AC、RD值,建立交会图版,分别拟合高角度缝和低角度缝的AC与RD的指数函数关系,从而确定高角度缝的利用AC重构深侧向电阻率的函数关系与低角度缝的利用AC重构深侧向电阻率的函数关系,也即确定高、低角度缝公式中的e、f值;

其中,利用以下公式建立密度DEN与电阻率的函数关系:

Rt=n·DENm其中,m、n为常数;

其中,DEN对应的电阻率为双侧向中的浅侧向电阻率RS,即Rt对应RS;

其中,分别读取高角度缝和低角度缝所处深度的DEN、RS值,建立交会图版,分别拟合高角度缝和低角度缝的DEN与RS的指数函数关系,从而确定高角度缝的利用DEN重构深侧向电阻率的函数关系与低角度缝的利用DEN重构深侧向电阻率的函数关系,也即确定高角度缝和低角度缝公式中的m、n值;

其中,将声波AC、密度DEN转换的电阻率带入Sibbit模型,求解得储层裂缝孔隙度值。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,利用威力时间公式,将声波AC、密度DEN转换成声波孔隙度PAC、密度孔隙度PDEN:

其中,ACma表示纯岩石地层声波骨架值180;ACf表示纯岩石地层空隙中全为水时的声波值620;DENma表示纯岩石地层骨架的密度值;DENf表示纯岩石地层孔隙中全为水时的密度值。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述校正声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线的步骤包括:

调节测井测量的声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线值的左右刻度,使声波孔隙度PAC曲线和密度孔隙度PDEN曲线在已知干层或者水层处重叠;或者

当没有被测试结论证实的确定的干层或者水层的情况下,选择高阻致密层,调节两条曲线的左右刻度,使其在致密层处重叠。

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