[发明专利]利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置在审
申请号: | 201610237057.2 | 申请日: | 2016-04-15 |
公开(公告)号: | CN107300560A | 公开(公告)日: | 2017-10-27 |
发明(设计)人: | 金永寔;郑保赫 | 申请(专利权)人: | CVI株式会社 |
主分类号: | G01N21/896 | 分类号: | G01N21/896 |
代理公司: | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司11467 | 代理人: | 陈丽丽 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 同轴 照明 反射 玻璃 检测 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置,尤其涉及一种利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置,为摄取检测对象即玻璃基板表面或角落的影像,玻璃基板移送方向的垂直线上布置多个检测用摄像机与同轴照明装置,并且在玻璃基板下方设置将同轴照明装置发射的光进行反射的反射板装置,一边慢慢移动玻璃基板,一边摄取玻璃基板表面或角落,从而检出玻璃基板表面或角落有无缺陷。
背景技术
玻璃基板在用于显示所定视频等的显示器上使用,例如等离子显示面板(Plasma Display Panel)、液晶显示器(Liquid Crystal Display)、有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode)等。
以前作为显示装置使用的屏幕大多采用14英寸至30英寸左右的大小。然而最近为了观赏宽屏幕画面,偏向40至50英寸以上的大屏幕。随之所采用玻璃基板大小也逐渐呈现大型化趋势。
玻璃基板是经过用原料成型玻璃基板的成型工序后,经过按所定规格切割的切割工序、将所定部位进行研磨的研磨工序,然后上市符合规格条件的产品。从玻璃基板成型到完成品上市,由于各种因素有可能引发玻璃基板上缺陷。
玻璃基板上有无裂缝(Crack)成了检测对象。例如,若是构成显示面板的玻璃基板,要进行切割及倒棱工序、减薄工序、固化工序、腔体形成工序、像素及电路形成工序等很多工序,且在每一工序中都有可能在玻璃基板内部发生裂缝,发生裂缝的玻璃基板有可能影响显示面板的 画质,因此应作为不合格处理。不仅显示面板,其他用途的玻璃基板上裂缝,也大多作为玻璃基板质量不合格处理,从而需要使用检测玻璃基板裂缝的装置,也出现了多种多样的装置。
发明内容
本发明的目的在于提供一种更为简便、精细检测玻璃基板表面有无裂缝等缺陷的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置。
为实现上述目的,根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置,用于检测玻璃基板表面有无缺陷,其特征在于,其构成为:为检测上述玻璃基板10表面的缺陷而移送玻璃基板的移送装置;用于拍摄上述玻璃基板10表面的多个检测用摄像机20;将上述检测用摄像机20排一列进行支撑的摄像机支撑框;位于通过上述移送装置移送的玻璃基板10的上方,并在上述检测用摄像机20的镜头所指方向的下方相隔开设置的同轴照明装置30;在上述同轴照明装置30下方设置的视点35;以及位于通过上述移送装置移送的玻璃基板10的下方,并与上述检测用摄像机20与上述同轴照明30设在同一垂直线上,将上述同轴照明装置发射的光进行反射的反射板装置40,
特征在于,用上述多个检测用摄像机20拍摄的上述玻璃基板表面的影像是通过识别用电脑进行输出与处理的。
并且,根据本发明另一实施例的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置,其特征在于,其构成为:将玻璃基板进行移送的移送装置15;为拍摄上述玻璃基板10的左右角落而在左右各设一个的检测用摄像机21;用于支撑上述检测用摄像机21的摄像机支撑框;
位于通过上述移送装置进行移送的玻璃基板10的左右角落上方,并设在与检测用摄像机20镜头所指方向相一致的下方的同轴照明装置31;
沿着用于移送上述玻璃基板10的移送装置15左右侧面按“L”字形设置,并将上述同轴照明装置31发射的光进行反射的反射板装置41,
特征在于,上述移送装置15的宽比上述玻璃基板10的宽小。
根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置,无需暂停移送玻璃基板,即可连续检测玻璃基板表面与角落部分有无缺陷,因此可减少检测时间及检测方法上的损失并提高生产效率,而具备显著效果。
根据本发明,将检测对象玻璃基板表面及角落部分进行拍摄的拍摄影像与事先保存的正常玻璃基板的原本影像图案信息相比较,而检出有无裂缝等缺陷,从而工作者无需一一肉眼确认玻璃基本表面及角落部分有无缺陷,即可准确检出细微裂缝,而具备显著效果。
附图说明
图1是根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的斜视图。
图2是根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的正面观主视图。
图3是根据本发明的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的在上方俯视的平面图。
图4是根据本发明另一实施例的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的斜视图。
图5是根据本发明另一实施例的利用同轴照明与反射板的玻璃基板检测装置的在上方俯视的平面图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于CVI株式会社,未经CVI株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610237057.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种纺织品中甲醛的测定方法
- 下一篇:基于多遥感器联合探测的海洋盐度卫星