[发明专利]一种谐振式MEMS全量程倾角传感器在审
申请号: | 201610244277.8 | 申请日: | 2016-04-19 |
公开(公告)号: | CN105737811A | 公开(公告)日: | 2016-07-06 |
发明(设计)人: | 韦学勇;王曙东;翁寅生;任娟;蒋庄德 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01C19/5733 | 分类号: | G01C19/5733 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 贺建斌 |
地址: | 710049*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 谐振 mems 量程 倾角 传感器 | ||
1.一种MEMS谐振式全量程倾角传感器,包括单晶硅基底(1),单晶硅基底(1)上生长一层二氧化硅绝缘层(2),二氧化硅绝缘层(2)上设有单晶硅结构层(3),其特征在于:
单晶硅结构层(3)的中心悬浮有多边形的质量块(10),质量块(10)通过至少三对微放大梁(11)分别与双端固定谐振音叉(12)的末端相连接,微放大梁(11)、双端固定谐振音叉(12)呈放射状均匀分布,双端固定谐振音叉(12)的两侧设置有驱动端(13)和检测端(14),双端固定谐振音叉(12)与驱动端(13)、检测端(14)静电耦合,双端固定谐振音叉(12)的顶端与静电极(15)相接,双端固定谐振音叉(12)与质量块(10)相应的边垂直,微放大梁(11)与质量块(10)相应的边平行,三者处于同一个平面内,在应用时,该平面法向与重力方向垂直。
2.根据权利要求1所述的一种MEMS谐振式全量程倾角传感器,其特征在于:所述的微放大梁(11)的输入梁(11-1)附着于质量块(10),微放大梁(11)中部的支点(11-2)固定于驱动端(13)的第一固定端(13-1)或检测端(14)的第二固定端(14-1)上,第一固定端(13-1)和第二固定端(14-1)上分别沉积有第一金属电极层(13-2)和第二金属电极层(14-2),微放大梁(11)的输出梁(11-3)附着于双端固定谐振音叉(12)的谐振梁(12-1)的末端,谐振梁(12-1)的首端固定于顶部固定端(15-1)上,谐振梁(12-1)的两侧连接有第二电容平板(12-2),两个第二电容平板(12-2)的外侧分别设有第一电容平板(13-3)和第三电容平板(14-3),第二电容平板(12-2)和第一电容平板(13-3)、第三电容平板(14-3)静电耦合,第一电容平板(13-3)和第三电容平板(14-3)分别固定在第一固定端(13-1)和第二固定端(14-1)上,顶部固定端(15-1)上沉积有第三金属电极层(15-2)。
3.根据权利要求1所述的一种MEMS谐振式全量程倾角传感器,其特征在于:所述的双端固定谐振音叉(12)被置于具有自动增益控制的振荡电路,振荡电路包括放大器(16-1)、带通滤波器(16-2)和比较器(16-3),第三金属电极层(15-2)上通入电压为双端固定谐振音叉(12)提供直流偏置,由双端固定谐振音叉(12)谐振产生的交流信号经过放大器(16-1)、带通滤波器(16-2)和比较器(16-3)处理之后,一方面反馈至驱动端(13),保证闭环测试电路的连续稳定振荡,另一方面输出给频率测量装置(16-4)测量频率。
4.根据权利要求1所述的一种MEMS谐振式全量程倾角传感器,其特征在于:所述的质量块(10)的边长范围为1000um-2000um。
5.根据权利要求1所述的一种MEMS谐振式全量程倾角传感器,其特征在于:所述双端固定式音叉谐振器(12)的谐振梁(12-1)长度范围为200um-500um,宽度范围为2um-5um。
6.根据权利要求2所述的一种MEMS谐振式全量程倾角传感器,其特征在于:所述的电容平板长度范围为100um-250um,宽度范围为2um-5um。
7.根据权利要求1所述的一种MEMS谐振式全量程倾角传感器,其特征在于:所述微放大梁(11)的支点(11-2)到输入梁(11-1)的距离与其到输出梁(11-3)的距离比值范围达10-100倍。
8.根据权利要求1所述的一种MEMS谐振式全量程倾角传感器,其特征在于:在所述单晶硅基底(1)和二氧化硅绝缘层(2)上加工出刻蚀孔,保证质量块(10)、微放大梁(11)和双端固定谐振式音叉(12)的悬空,其未刻蚀的部分保证了第一固定端(13-1)、第二固定端(14-1)和顶部固定端(15-1)的固定。
9.根据权利要求1所述的一种MEMS谐振式全量程倾角传感器,其特征在于:所述的单晶硅结构层(3)由单个半导体晶片完整的制造,通过表面微加工技术或刻蚀工艺制造。
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