[发明专利]一种精密控制6英寸碳化硅单晶生长温场的方法在审
申请号: | 201610245235.6 | 申请日: | 2016-04-19 |
公开(公告)号: | CN105696079A | 公开(公告)日: | 2016-06-22 |
发明(设计)人: | 刘欣宇;张云伟;靳丽婕;何丽娟;陈颖超 | 申请(专利权)人: | 北京世纪金光半导体有限公司 |
主分类号: | C30B29/36 | 分类号: | C30B29/36;C30B35/00 |
代理公司: | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 | 代理人: | 尹振启;张希宇 |
地址: | 101111 北京市通*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 精密 控制 英寸 碳化硅 生长 方法 | ||
1.一种精密控制6英寸碳化硅单晶生长温场的方法,其特征在于,为该方法配备一碳化 硅单晶生长用单晶炉,该单晶炉包括用于加热坩埚的发热筒和感应加热发热筒的加热线 圈;
该方法包括如下步骤:
步骤1)基于感应加热法设计所述加热线圈,该加热线圈由轴向排布的若干段线圈单元 组合而成,每段线圈单元连接有独立控制装置;
步骤2)通过控制每段线圈单元的加热参数,使发热筒各部分的发热量发生改变,从而 精确控制单晶炉腔内温度场,始终保持晶体生长的前沿处于适合其生长的温区,最终得到 碳化硅单晶。
2.如权利要求1所述的精密控制6英寸碳化硅单晶生长温场的方法,其特征在于,根据 场温控制需求,确定每段所述线圈单元的匝数,且所述加热线圈的匝间距相同。
3.如权利要求1所述的精密控制6英寸碳化硅单晶生长温场的方法,其特征在于,每段 所述线圈单元为单匝或者多匝。
4.如权利要求1所述的精密控制6英寸碳化硅单晶生长温场的方法,其特征在于,所述 加热线圈为水冷管式铜线圈。
5.如权利要求1所述的精密控制6英寸碳化硅单晶生长温场的方法,其特征在于,每段 所述线圈单元连接有独立控制电源,或者所有线圈单元连接同一电源,每段线圈单元连接 有各自的分线控制器,由所述分线控制器独立控制每段线圈单元的功率。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京世纪金光半导体有限公司,未经北京世纪金光半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610245235.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:显示器支架底座
- 下一篇:一种压片法制备共晶的方法