[发明专利]一种非挥发性存储器的自测试方法和装置

说明书

本发明提供了一种非挥发性存储器的自测试方法和装置，非挥发性存储器包括自测试控制器，非挥发性存储器与测试设备相连，方法包括：通过非挥发性存储器接收测试设备发送的启动自测试指令；启动自测试控制器，确定最大测试次数和非挥发性存储器的各待测试项目；通过自测试控制器根据各待测试项目对非挥发性存储器进行测试，直至对各待测试项目的测试次数等于最大测试次数，或直至任一待测试项目的测试结果为非挥发性存储器失效；若任一待测试项目的测试结果为非挥发性存储器失效，则通过自测试控制器记录对应的项目失效信息至非挥发性存储器的第一预设存储空间。本发明使得老化测试简单方便，大幅降低了老化测试对测试设备的要求，测试成本更低。

技术领域

本发明涉及存储器技术领域，特别是涉及一种非挥发性存储器的自测试方法和一种非挥发性存储器的自测试装置。

背景技术

存储器由于容量大，器件密度高，存在严重的早期失效问题。这个问题随着工艺尺寸的缩小而加剧。存储器的失效概率与使用次数之间的关系符合图1所示浴缸曲线的特性，即开始使用时存储器的失效概率高，当达到一定使用次数后存储器的失效概率就会大幅降低，直到达到存储器的使用寿命后，存储器的失效概率会继续升高。通过老化测试能够提高存储器的可靠性。老化测试即在出厂之前，对存储器进行反复地擦除、写、读等操作，让早期失效的存储器个体被检测出来，这样出厂时候的产品失效概率已经处于浴缸曲线的底部，失效概率大幅降低。

现有老化测试方法是使用老化测试设备，对存储器依次进行擦、写、校验以及所需的其他操作，并循环特定的次数，从而筛除早期失效的存储器个体。

但是，现有老化测试方法中还存在以下缺点：老化测试设备功能强大，能进行复杂的程序化操作以及对存储器进行校验，因此老化测试设备昂贵，而且单位时间的测试费用也比较昂贵；在批量生产存储器的时候，需要用老化测试设备对存储器进行反复的擦除、写、读等操作，时间很长，由于老化测试设备昂贵，而且单位时间的测试费用也比较昂贵，因此，现有老化测试方法的测试成本很高，造成存储器产品成本上升。

发明内容

鉴于上述问题，本发明实施例的目的在于提供一种非挥发性存储器的自测试方法和一种非挥发性存储器的自测试装置，以解决现有老化测试方法的测试成本很高，造成存储器产品成本上升的问题。

为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种非挥发性存储器的自测试方法，所述非挥发性存储器包括自测试控制器，所述非挥发性存储器与测试设备相连，所述自测试方法包括以下步骤：通过所述非挥发性存储器接收所述测试设备发送的启动自测试指令；启动所述自测试控制器，确定最大测试次数和所述非挥发性存储器的各待测试项目；通过所述自测试控制器根据所述各待测试项目对所述非挥发性存储器进行测试，直至对所述各待测试项目的测试次数等于所述最大测试次数，或直至任一待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效；其中，若任一待测试项目的测试结果为所述非挥发性存储器失效，则通过所述自测试控制器记录对应的项目失效信息至所述非挥发性存储器的第一预设存储空间。

可选地，所述确定最大测试次数和所述非挥发性存储器的各待测试项目，包括：从所述非挥发性存储器的第二预设存储空间获取所述最大测试次数对应的数据和所述各待测试项目对应的数据；根据所述最大测试次数对应的数据确定所述最大测试次数，以及根据所述各待测试项目对应的数据确定所述各待测试项目。

可选地，所述确定最大测试次数和所述非挥发性存储器的各待测试项目，包括：从所述启动老化自测试指令获取所述最大测试次数对应的数据和所述各待测试项目对应的数据；根据所述最大测试次数对应的数据确定所述最大测试次数，以及根据所述各待测试项目对应的数据确定所述各待测试项目。