[发明专利]金相试样夹持装置

说明书

技术领域

本发明具体涉及一种金相试样夹持装置。

背景技术

在现代机械零件制造、钢铁材料冶炼、有色金属冶金、无机非金属材料生产、电子封装材料制备、复合材料开发等工业生产及科学研究中，常常应用光学金相显微镜、扫描电子显微镜和显微硬度计等设备来分析和评定材料内部的金相显微组织形态、内部缺陷分布特征和材料组成相的硬度，而研究和评价材料微观组织形貌的对象和依据是金相试样。

为了一次能够进行多个试样的观察，节约实验时间，用于扫描电子显微镜观察的金相试样通常对尺寸有严格的要求。在保证观察面积的同时，试样高度也不能太高，且为了保证材料的导电性，不能对试样进行镶嵌，因此在制样过程中存在夹持不方便的现象，制备的试样同样也存在倒边、边缘不平整等问题。

有鉴于上述的需求，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种金相试样夹持装置，使其更具有产业上的利用价值。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明的目的是提供一种能够方便、平稳地夹持金相试样的金相试样夹持装置。

借由上述方案，本发明金相试样夹持装置至少具有以下优点：能够对不是规整形状、不易手拿的微小金相试样进行有效的磨制、抛光工作。将试样磨面与夹持面侧面置平，一齐进行磨制和抛光，能够有效避免磨样过程中产生倒边的问题，夹持装置加工简单，生产成本低，拆装容易，操作方便，安全可靠。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

图1是本发明金相试样夹持装置的实施例1的结构示意图；

图2是本发明金相试样夹持装置的实施例2的结构示意图；

图3是本发明金相试样夹持装置部分结构示意图；

图4是本发明金相试样夹持装置的上夹具板的结构示意图；

图5是本发明金相试样夹持装置的上夹具板的侧视图；

图6是本发明金相试样夹持装置的螺柱结构示意图；

图7是本发明金相试样夹持装置的螺帽结构示意图；

图中：1、上夹具；2、下夹具；3、螺柱；4、螺帽。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

实施例1

如图1至6所示，本实施例金相试样夹持装置，包括：上夹具1、下夹具2，所述的上夹具、下夹具相面对的夹持面上设有防滑凸起结构。所述的上夹具、下夹具上相对应位置分别各自设有两个通孔，所述的上、下夹具上的两个通孔对称设置；螺柱3穿过所述的上、下夹具上对应位置处的通孔，所述螺柱上设有螺母4。所述的上夹具、下夹具的夹持面上相对应位置各自设有一个V形缺口槽。所述的上、下夹具上的V形缺口槽设置在两通孔之间。

本实施例中，上夹具1是一个长方体铝板，其上设有两个通孔，所述通孔为螺柱插入定位孔，具体尺寸可依据实际需要自行设定。在夹具夹持面设有防滑凸起结构，作用是提升试样夹持摩擦力，同时加工有V型凹槽，作用是利于夹持非整形、不易手拿的微小金相试样。上夹具、下夹具所采用的材料硬度需低于所制备的试样硬度，作用是夹具能够随试样一起被磨制和抛光，消除磨样过程中产生的试样倒边，制样不平问题，同时夹具材料硬度较制备试样材料低时，磨损产生的磨屑不会对试样产生划痕。下夹具的材料和尺寸与上夹具相同，同样在试样接触面上印有防滑网格纹路，并设有V型缺口，同时设有与上夹具上通孔位置相同的两个对称通孔。

本实施例中的螺柱为六角单头螺柱和六角单头螺柱为符合国家标准尺寸的六角单头螺柱，具体尺寸根据上、下夹具上的通孔尺寸和所夹持试样尺寸选取。优选尺寸外径尺寸小于六角单头螺柱，间隙配合，有助于调节试样夹持位置。

使用时，逆时针旋转螺帽，根据试样尺寸调整上下夹具之间的距离，将准备制备的金相试样放置于上下夹具之间，使金相试样的外壁贴合防磨网格，保持试样侧面(磨抛面)与两夹具侧面平行，这样可以将夹具与试样同时进行磨制和抛光，增加摩擦面积，保证试样的磨面平整。最后调整螺帽松紧，保证试样夹持紧后即可对金相试样进行打磨、抛光。制样过程中手持上下夹具，持样方便且能够有效保护实验者手指。制样结束后，松开螺帽，即可取出试样，进行下一步观察。

实施例2