[发明专利]一种高精度消色差相位延迟器

说明书

【技术领域】

本发明专利涉及设备光学器件技术领域，具体为一种高精度消色差相位延迟器。

【背景技术】

由于光的相位在透过具有二相性或多向性的物质时发生偏转所产生的相位的延后作用称为相位延迟。在液晶显示的光学材料中普遍发生。电路中，相位延迟定义如下：相位与频率的比叫相延迟。用来描述信号中，对于每一个频率分量，对应的相位特征。也就是τ(ω)＝-φ(ω)/ω。注意：相延迟不同于群延迟。相延迟侧重于每一个频率分量，群延迟则是描述相位的变化率从琼斯矩阵理论出发,利用偏振镜、分束器和锁相放大器以及微处理器,搭建了测试系统,实现了数据的自动化处理。利用闭环反馈控制系统和高精度步进马达,对旋转角度进行了反馈控制,利用Si光电探测器,使用范围覆盖近紫外到近红外,创建的测量系统具有测量精度高,重复性好,自动化程度高,操作简单的特点。经过对菲涅耳菱体型高精度消色差相位延迟器件的测试,测量误差小于0.3％。该系统也可以用来测量其他类型器件的相位延迟,在偏光测试领域有着广泛的应用。

目前的高精度消色差相位延迟器在受用过程中存在着许多不便之处，精度低，色差消除效果差，因此需要一种高精度消色差相位延迟器能够提高其工作精度。

【发明专利内容】

本发明专利的主要目的在于提供一种医疗用制药搅拌设备，，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本发明专利采取的技术方案为：

一种高精度消色差相位延迟器，包括外壳、入射光源、滤光装置、调节装置折射装置和光学仪器,所述外壳的上安装有固定装置，所述固定装置的中心处安装有保护层，所述保护层的下放安装有滤光片，所述滤光片的下放安装有偏光片，所述偏光片的下放安装有第一穆尼菱形晶体，所述第一穆尼菱形晶体的下方安装有第二穆尼菱形晶体，所述第二穆尼菱形晶体的下方安装有零级波片，所述零级波片的下方安装有一级波片，所述一级波片的下放安装有光学介质膜，所述光学介质膜的下方安装有透光条，所述入射光源与滤光装置连接，所述滤光装置和调节装置均与折射装置连接，所述折射装置与光学仪器连接。

进一步地，所述外壳为圆柱形结构。

进一步地，所述第一穆尼菱形晶体和第二穆尼菱形晶体之间的夹角可调。

进一步地，所述保护层为硬度较高的钢化玻璃。

与现有技术相比，本发明专利具有如下有益效果：该设备结构科学合理，使用安全方便，外层设置有保护层，能够在使用过程中有效的避免内部的结构受到外部环境的影响，延长使用寿命；设置有第一穆尼菱形晶体和第二穆尼菱形晶体，能够有效提高其工作精度，降低延迟量量偏移的最大值。

【附图说明】

图1为本发明专利一种高精度消色差相位延迟器的整体结构示意图。

图2为本发明专利一种高精度消色差相位延迟器的整体结构框图。

图中：1-外壳；2-保护层；3-滤光片；4-偏光片；5-第二穆尼菱形晶体；6-一级波片；7-透光条；8-固定装置；9-第一穆尼菱形晶体；10-零级波片；11-光学介质膜；12-入射光源；13-滤光装置；14-调节装置；15-折射装置；16-光学仪器。

【具体实施方式】

为使本发明专利实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明专利。

如图1-2所示，本发明专利提供的一种高精度消色差相位延迟器实施例：一种高精度消色差相位延迟器，包括外壳1、入射光源12、滤光装置13、调节装置14折射装置15和光学仪器16,外壳1的上安装有固定装置8，固定装置8的中心处安装有保护层2，保护层2的下放安装有滤光片3，滤光片3的下放安装有偏光片4，偏光片4的下放安装有第一穆尼菱形晶体9，第一穆尼菱形晶体9的下方安装有第二穆尼菱形晶体5，第二穆尼菱形晶体5的下方安装有零级波片10，零级波片10的下方安装有一级波片6，一级波片6的下放安装有光学介质膜11，光学介质膜11的下方安装有透光条7，入射光源12与滤光装置13连接，滤光装置13和调节装置14均与折射装置15连接，折射装置15与光学仪器16连接。

其中，外壳1为圆柱形结构。

其中，第一穆尼菱形晶体9和第二穆尼菱形晶体5之间的夹角可调。

其中，保护层2为硬度较高的钢化玻璃。

以上显示和描述了本发明专利的基本原理和主要特征和本发明专利的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明专利不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明专利的原理，在不脱离本发明专利精神和范围的前提下，本发明专利还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明专利范围内。本发明专利要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。