[发明专利]一种页岩孔隙成像方法和装置有效

专利信息
申请号: 201610270879.0 申请日: 2016-04-27
公开(公告)号: CN105957118B 公开(公告)日: 2017-10-27
发明(设计)人: 王彦飞;唐巍 申请(专利权)人: 中国科学院地质与地球物理研究所
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 代理人: 毕强
地址: 100000 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 页岩 孔隙 成像 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种页岩孔隙成像方法,其特征在于,包括:

对页岩样品进行X射线扫描,得到X射线扫描的投影数据;

对所述投影数据进行去噪校正处理;

利用所述X射线的光强和光强传播方程TIE构造相位对于所述投影数据的干扰模型;

对所述干扰模型进行基于空间域的离散化处理,得到空间域离散化算子方程;

将去噪校正处理后的投影数据作为所述空间域离散化算子方程的输入数据,得出相位校正投影数据,其中,所述相位校正投影数据为不含相位信息的投影数据;

利用滤波反投影算法对所述相位校正投影数据进行处理,得到所述页岩样品的图像。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,利用所述X射线的光强和光强传播方程TIE构造相位对于所述投影数据的干扰模型包括:

根据所述X射线的光强及所述页岩样品的先验信息选定相位移动吸收比,其中,所述先验信息包括所述页岩样品主要成分的线性吸收系数和吸收边信息;

对所述相位移动吸收比做单一性假设,得到所述干扰模型,其中,所述干扰模型为以投影厚度为自变量的TIE连续方程,表示为:

(-dδμ2+1)e-μT(r)=IθdIin]]>

为所述X射线透过所述页岩样品后剩余光强,其中,所述剩余光强用检测器记录,Iin为所述X射线的入射光强,d为所述页岩样品与所述检测器之间的距离,δ为所述页岩样品的相位因子,为拉普拉斯算子,μ是所述页岩样品的线性吸收系数,T(r)表示所述页岩样品的投影厚度。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,利用所述X射线的光强和光强传播方程TIE构造相位对于所述投影数据的干扰模型还包括:

令f=e-μT(r),所述干扰模型在实验室有噪声的条件下通过所述检测器记录的所述剩余光强得到的观测数据表示为:

其中error为实验室噪声。

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