[发明专利]光学防伪特征检测方法及装置在审
申请号: | 201610290777.5 | 申请日: | 2016-05-05 |
公开(公告)号: | CN107346578A | 公开(公告)日: | 2017-11-14 |
发明(设计)人: | 鲍东山;陈新;万成凯;唐辉 | 申请(专利权)人: | 北京新岸线数字图像技术有限公司 |
主分类号: | G07D7/128 | 分类号: | G07D7/128;G07D7/121 |
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地址: | 100084 北京市海淀区中*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 防伪 特征 检测 方法 装置 | ||
1.一种光学防伪特征的检测方法,其特征在于,该方法包括:
照射被检测物上的防伪图案所在区域;
分别从两个不同的角度接收所述预定区域的反射光、并得到所述防伪图案所在区域的第一图像和第二图像;
比较所述第一图像和所述第二图像,以检测所述防伪图案是否具有光学防伪特征。
2.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述接收发射光的第一角度小于或等于30度,所述接收发射光的第二角度大于或等于60度。
3.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述接收发射光的第一角度和第二角度之间的差值大于或等于50度。
4.一种接触式图像传感器CIS,其特征在于,所述CIS包括:光源、第一透镜、第二透镜、第一光电转换芯片和第二光电转换芯片;
所述光源,照射被检测物上的预定区域;
所述第一透镜,以第一观测角β1接收所述预定区域的反射光、并导入所述第一光电转换芯片;
所述第二透镜,以第二观测角β2接收所述预定区域的反射光、并导入所述第二光电转换芯片;所述第一观测角β1和所述第二观测角β2不相等;
所述第一光电转换芯片,接收经所述第一透镜导入的反射光,得到所述预定区域的第一图像;
所述第二光电转换芯片,接收经所述第二透镜导入的反射光,得到所述预定区域的第二图像。
5.如权利要求4所述的CIS,其特征在于,所述第一透镜以第一观测角β1接收所述预定区域的反射光时,所述光源以第一入射角α1照射所述预定区域;所述第二透镜以第二观测角β2接收所述预定区域的反射光时,所述光源以第二入射角α2照射所述预定区域。
6.如权利要求4或5所述的CIS,其特征在于,所述第一观测角β1与所述第二观测角β2的差值大于或等于50度。
7.一种光学防伪特征检测装置,其特征在于,包括识别单元及如权利要求4或5所述的接触式图像传感器CIS;
所述CIS,将得到的第一图像和第二图像输出给识别单元;
所述识别单元,对所述第一图像和所述第二图像进行处理,并比较所述 第一图像与所述第二图像,以检测被检测物上的预定区域是否具有光学防伪特征。
8.一种检验设备,其特征在于,包括权利要求30所述的光学防伪特征检测装置,及指示装置;
所述光学防伪特征检测装置用于检测被检测物上预定区域的光学防伪特征,并将检测结果发送给所述指示装置;
指示装置,根据所述光学防伪特征检测装置提供的检测结果输出被检测物是否为真的指示信号。
9.如权利要求8所述的设备,其特征在于,还包括:
告警装置,用于接收所述光学防伪特征检测装置提供的检测结果,并根据所述检测结果输出告警音频信号。
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