[发明专利]用于测量板材收缩率的装置和方法在审

专利信息
申请号: 201610292500.6 申请日: 2016-05-05
公开(公告)号: CN105717154A 公开(公告)日: 2016-06-29
发明(设计)人: 祁麟;周波;李俊锋;王丽红 申请(专利权)人: 东旭科技集团有限公司;东旭集团有限公司
主分类号: G01N25/16 分类号: G01N25/16;G01B11/16
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 李翔;李雪
地址: 100075 北京市丰台区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 板材 收缩 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及板材性能测试领域,具体地,涉及一种用于测量板材收缩率的装置和方法。

背景技术

玻璃在经过高温加热后再冷却到室温,相比原玻璃会发生微小的收缩,玻璃的热收缩率是玻璃的一项非常重要的理化性能参数。但是,由于玻璃热热收缩率的测量精度要求极高,且对测量环境也有很高的要求,玻璃的热收缩率测量是玻璃检测的一个难点。

传统中,通常用显微镜手动测量。在测量时,首先用显微镜测量玻璃的一侧收缩量后手动移动玻璃再测量另一侧的收缩量,在玻璃移动过程中会发生玻璃错位,造成测量结果不稳定、偏差较大,且测量过程复杂,测量人员工作量较大。

因此,希望有一种可以在稳定的状态下测量玻璃的两侧的收缩量的装置能够克服现有技术的上述缺陷,提高了玻璃的收缩量的测量精度。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于测量板材收缩率的装置,该设备能够更加准确的测量板材的收缩率。

为了实现上述目的,本发明提供一种用于测量板材收缩率的装置,所述装置包括:底座,所述底座上设置有板材放置部;支架,所述支架安装在所述底座上;测量探头,所述测量探头安装在所述支架上,且所述测量探头能够获取图像信号;以及显示处理装置,所述显示处理装置能够接收所述图像信号,对所述图像信号进行分析处理,并显示处理结果。

优选地,所述装置还包括控制装置,所述支架包括:纵向移动机构,该纵向移动机构能够在所述控制装置的控制下沿纵向方向移动所述测量探头;以及横向移动机构,该横向移动机构能够在所述控制装置的控制下沿横向方向移动所述测量探头。

优选地,所述纵向移动机构包括纵向架、可转动地设置所述纵向架上的纵向丝杠和螺纹配合在所述纵向丝杠上的安装块;所述横向移动机构包括固定设置在所述安装块上的横向架、可转动地设置在所述横向架上的横向丝杠和螺纹配合在所述横向丝杠上的安装座,其中,所述测量探头设置在所述安装座上。

优选地,所述纵向移动机构包括相互间隔的第一纵向移动机构和第二纵向移动机构,所述横向架设置在所述第一纵向移动机构的安装块和第二纵向移动机构的安装块之间。

优选地,所述纵向移动机构通过纵向电机驱动,所述纵向电机通过带传动机构带动所述第一纵向移动机构的丝杠和所述第二纵向移动机构的丝杠同步运转。

优选地,所述纵向架上安装有纵向导杆,所述安装块与所述纵向导杆滑动连接,和/或所述横向架上安装有横向导杆,所述安装座与所述横向导杆滑动连接。

优选地,所述测量探头包括间隔设置的第一测量探头和第二测量探头。

优选地,所述第一测量探头和所述第二测量探头沿纵向方向同步移动,所述第一测量探头和所述第二测量探头沿横向方向相互独立的移动。

优选地,通过第一横向丝杠传动机构使得所述第一测量探头沿横向方向移动,通过第二横向丝杠传动机构使得所述第二测量探头沿横向方向移动,其中,所述第一横向丝杠传动机构的丝杠和所述第二丝杠传动机构的丝杠沿横向方向依次同轴布置,所述第一横向丝杠传动机构的丝杠和所述第二横向丝杠传动机构的丝杠通过第一横向电机和第二横向电机分别驱动。

优选地,所述测量探头能够自动对焦。

优选地,所述板材放置部由大理石制成。

根据本发明的另一个方面,提供一种用于测量板材收缩率的方法,该方法包括以下步骤:第一,在待测量板材上画出两条相互间隔且相互平行的基准线;第二,将所述板材分割为对比件和测量件,使得对比件和测量件上都具有同一基准线的一部分;第三,对所述测量件进行处理,将处理后的所述测量件和所述对比件对应放置在一起;第四,测量所述测量件上的基准线与所述对比件上的基准线之间的距离,并计算所述待测量板材的收缩率;其中,在所述第四步中,通过测量探头获取所述测量件上的基准线和所述对比件上的基准线的图像,并通过显示处理装置显示所述图像,以根据所述图像来测量所述测量件上的基准线与所述对比件上的基准线之间的距离。

优选地,在所述第四步中,通过第一测量探头和第二测量探头分别获取第一侧处的所述测量件的基准线和所述对比件的基准线的图像和第二侧处的所述测量件的基准线和所述对比件的基准线的图像。

优选地,在所述第四步中,所述第一测量探头和所述第二测量探头同时获取第一侧处的所述测量件和所述对比件的基准线的图像以及第二侧处的所述测量件和所述对比件的基准线的图像。

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