[发明专利]用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路

说明书

本发明提供一种用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路，所述测试线路包括第一数据线测试短棒、第二数据线测试短棒，所述第一数据线测试短棒及第二数据线测试短棒均包括红色信号线、绿色信号线及蓝色信号线，所述数据线的一端依照蓝、红、红、绿、绿、蓝色信号线的顺序与所述第一数据线测试短棒连接，所述数据线的另一端依照红、红、绿、绿、蓝、蓝色信号线的顺序与所述第二数据线测试短棒连接。本发明的优点在于，提供一种用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路，其能够实现纯色画面，提高测试精确度。

技术领域

本发明涉及液晶显示面板领域，尤其涉及一种用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路。

背景技术

在液晶显示面板生产过程中，一般都会进行一次加电点亮的测试，以检测液晶像素显示是否正常。现有的液晶面板测试检测的技术中，主要采用测试短棒(Shorting bar)面板布线的方式来进行测试，所述测试短棒就是将独立的栅信号或数据信号进行短接的面板区域，液晶显示面板内部发生的各种异常，理论上通过这一测试就可以在这一站检测出来，应该要保证能给每一颗子像素提供信号进行测试。

如图1所示，图1示出了一种典型的液晶面板LCD阵列基板的结构示意图，所述阵列基板包括显示区10及位于所述显示区10外围的外围区域11。

在显示区10内设置有多条相互垂直的数据线Dm及栅线Gn，每一条数据线Dm与栅线Gm交叉处连接一子像素14。在所述外围区域11设置有第一测试短棒15及公共电极线16，所述第一测试短棒15上设置有红色信号线R、绿色信号线G及蓝色信号线B(分别对应于红绿蓝R/G/B的测试)，与红色子像素连接的数据线Dm均连接至红色信号线R，与绿色子像素连接的数据线Dm均连接至绿色信号线G，与蓝色子像素连接的数据线Dm均连接至蓝色信号线B，红色信号线R、绿色信号线G及蓝色信号线B用于向所述数据线Dm发生数据线测试信号，所述公共电极线16用于向显示区10中各子像素14提供公共电极；在所述外围区域还设置有第二测试短棒18，所述第二测试短棒18设置有多条栅线测试线19，分别和显示区10中各栅线Gn连接，用于向所述栅线Gn发生栅线测试信号，通过所述第一测试短棒15及第二测试短棒18即可将子像素14点亮，当第一测试短棒15给出R信号及第二测试短棒18开启时，所有红色子像素点亮，当第一测试短棒15给出Gn信号及第二测试短棒18开启时，所有绿色子像素点亮，当第一测试短棒15给出B信号及第二测试短棒18开启时，所有蓝色子像素点亮，从而检测液晶像素显示是否有缺陷。

目前TV面板的分辨率越来越高，屏幕尺寸一定，分辨率越高，数据线随即也越来越多，数据线越多，所需要的将外部数据信号引入液晶显示面板内的COF(Chip on Film覆晶薄膜)数量也越来越多，而COF的引脚有一定数量上限，COF与COF之间的距离也需要足够的空间来满足制程边界(margin)。而尺寸一定的面板，由于空间有限，单侧所放的COF IC有一定的数量限制，当面板数据线越来越多的情况下，就很难像传统设计方案一样摆放COF。

参见图2，半源极驱动HSD(Half Source Driving)像素阵列以虚线方框所示的八个子像素为一周期，左右相邻的子像素共用一条数据线，使得数据线的数目相对于传统液晶驱动像素阵列的数据线数目减半。同一行的相邻子像素连接不同的扫描线，同一行相隔一个子像素的子像素连接相同的扫描线，从而上下相邻的子像素连接不同的扫描线。半源极驱动HSD像素阵列能够减少date COF的使用，降低成本，且解决了传统的像素阵列键合空间不足的问题。

对于具有上述半源极驱动HSD像素阵列液晶面板，常规的液晶面板检测方法显然不能应用，因此，亟需一种应用于上述半源极驱动HSD像素阵列液晶面板的测试线路。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，提供一种用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路，其能够对数据线信号从液晶面板上下两侧交叉给入的液晶面板进行测试，提供高准确度的测试。