[发明专利]气体测量装置

权利要求书

1.一种气体测量装置，其特征在于，所述气体测量装置包括：

一腔体模块，所述腔体模块包括一聚光腔体、一容置腔体以及一连接于所述聚光腔体及所述容置腔体之间的采样腔体，其中所述聚光腔体具有一第一反射结构以及一连接于所述第一反射结构的第二反射结构，所述第一反射结构具有一第一焦点及一对应于所述第一焦点的第二焦点，所述第二反射结构具有一中心点，所述第一焦点与所述中心点彼此相对应设置；

一发光模块，所述发光模块设置于所述聚光腔体上，以产生一光线，所述发光模块包括一发光单元，其中所述发光单元对应于所述第一焦点及所述中心点；以及

一光感测模块，所述光感测模块包括一光感测单元，所述光感测单元设置于所述容置腔体中。

2.如权利要求1所述的气体测量装置，其特征在于，所述第一反射结构具有一椭圆曲率曲面，所述第二反射结构具有一正圆曲率曲面，所述发光单元设置于所述第一焦点及所述中心点上。

3.如权利要求1所述的气体测量装置，其特征在于，所述光线包括一投射于所述第一反射结构的第一投射光线以及一投射于所述第二反射结构的第二投射光线，所述第一投射光线通过所述第一反射结构的反射，以形成一投射至所述第二焦点的第一反射光线，所述第一投射光线以及所述第一反射光线相互配合，以形成一投射至所述光感测单元上的第一光线，所述第二投射光线通过所述第二反射结构的反射，以形成一投射至所述第一反射结构的第二反射光线，所述第二反射光线通过所述第一反射结构的反射，以形成一投射至所述第二焦点的第三反射光线，所述第二投射光线、所述第二反射光线 以及所述第三反射光线相互配合，以形成一投射至所述光感测单元上的第二光线。

4.如权利要求1所述的气体测量装置，其特征在于，所述采样腔体具有一上表面以及一下表面，所述采样腔体具有一第一开口端以及一对应于所述第一开口端的第二开口端，所述第一开口端连接于所述聚光腔体，所述第二开口端连接于所述容置腔体，所述第一开口端的所述上表面及所述下表面之间具有一第一预定距离，所述第二开口端的所述上表面及所述下表面之间具有一第二预定距离，所述第二预定距离大于所述第一预定距离。

5.如权利要求4所述的气体测量装置，其特征在于，所述腔体模块进一步包括一设置于所述采样腔体及所述容置腔体之间的导光部，在邻近于所述第二开口端的所述下表面与所述光感测单元之间具有一预定高度，所述预定高度及所述第二预定距离符合下列公式：0.8*L2≤H≤3*L2，其中H为所述预定高度，L2为所述第二预定距离。

6.如权利要求1所述的气体测量装置，其特征在于，所述腔体模块进一步包括一设置于所述采样腔体及所述容置腔体之间的导光部，所述导光部具有一导光面，所述导光面相对于一水平轴线倾斜一介于30度至60度之间的预定角度。

7.如权利要求1所述的气体测量装置，其特征在于，所述腔体模块进一步包括一设置于所述采样腔体及所述容置腔体之间的导光部以及一开槽，所述开槽连接于所述导光部及所述容置腔体之间，所述采样腔体具有一上表面及一下表面，所述开槽具有一预定宽度，所述采样腔体的所述下表面及所述光感测单元之间具有一预定高度，所述预定宽度及所述预定高度符合下列公式：0.8*W≤H≤3*W，其中H为所述预定高度，W为所述预定宽度。

8.如权利要求4所述的气体测量装置，其特征在于，所述采样腔体进一步具有一气体扩散槽，所述气体扩散槽设置于所述第一开口端及所述第二开口端之间。

9.如权利要求1所述的气体测量装置，其特征在于，所述发光模块为红外线发光器，所述光感测模块为红外线光感测器。

10.如权利要求1所述的气体测量装置，其特征在于，所述采样腔体的一横截面为矩形形状、五边形形状或六边形形状。