[发明专利]一种基于CCD探测器的光学材料折射率测量装置

权利要求书

1.一种基于CCD探测器的折射率测量装置，其特征在于，包括水平导轨、设置在水平导轨上的滑块、水平基台、长方体的标准样品和与所述标准样品形状尺寸相同的被测样品；所述滑块上设有第一激光器、第二激光器和第三激光器，所述第一、二、三激光器发出两两互不相同的单色光，所述第一、二、三激光器发出的光平行，所述基台上设有第一CCD探测器和第二CCD探测器；当滑块在第一位置时，第一激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第一光斑，第二激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第二光斑，第三激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第三光斑；当滑块在第二位置时，第一激光器的光线透过所述标准样品后在第二CCD探测器上形成第四光斑，第二激光器的光线透过所述标准样品后在第二CCD探测器上形成第五光斑，第三激光器的光线透过所述标准样品后在第二CCD探测器上形成第六光斑。

2.根据权利要求1所述的基于CCD探测器的折射率测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括竖板，所述水平导轨固定在所述竖板上，所述竖板上还设有排成一条水平直线的4个固定块，所述标准样品放置在第一CCD探测器一侧的两个的固定块上，所述被测样品放置在第二CCD探测器一侧的两个固定块上。

3.根据权利要求1所述的基于CCD探测器的折射率测量装置，其特征在于，所述第一、二、三激光器发出的光与水平面呈45度角。

4.根据权利要求1所述的基于CCD探测器的折射率测量装置，其特征在于，所述第一、二CCD探测器为面阵CCD探测器。

5.根据权利要求1所述的基于CCD探测器的折射率测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括控制器和显示器，当第一光斑和第二光斑之间的距离与第四光斑和第五光斑之间的距离不同，或者第二光斑和第三光斑之间的距离与第五光斑和第六光斑之间的距离不同时，控制器利用显示器提示被测样品不合格。