[发明专利]一种采用温控、旋流离心和相邻电容的磨损微粒监测方法在审
| 申请号： | 201610311483.6 | 申请日： | 2016-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN105889180A | 公开（公告）日： | 2016-08-24 |
| 发明（设计）人： | 张国云 | 申请（专利权）人： | 张国云 |
| 主分类号： | F15B19/00 | 分类号： | F15B19/00;F15B21/04 |
| 代理公司： | 绍兴市越兴专利事务所(普通合伙) 33220 | 代理人： | 蒋卫东 |
| 地址： | 312000 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 采用 温控 流离 相邻 电容 磨损 微粒 监测 方法 | ||
【说明书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于张国云，未经张国云许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610311483.6/2.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：改进型切割机智能工作台
- 下一篇：一种折叠式岩芯切割机
