[发明专利]双通道式SF6红外成像检漏仪校验用平台在审
申请号: | 201610319956.7 | 申请日: | 2016-05-13 |
公开(公告)号: | CN105758589A | 公开(公告)日: | 2016-07-13 |
发明(设计)人: | 祁炯;赵跃;苏镇西;薛冰;袁小芳;王海飞;宋玉梅 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;国网安徽省电力公司电力科学研究院 |
主分类号: | G01M3/02 | 分类号: | G01M3/02;G01M3/38 |
代理公司: | 青岛发思特专利商标代理有限公司 37212 | 代理人: | 耿霞 |
地址: | 100000 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双通道 sf sub 红外 成像 检漏 校验 平台 | ||
技术领域
本发明提供一种双通道式SF6红外成像检漏仪校验用平台,属于SF6红外成像检漏仪校验技术领域。
背景技术
SF6电气设备具有运行可靠、占地面积小及维护工作量少等优点,已在电力行业中大量使用。受到SF6电气设备产品设计能力、制造工艺水平、现场安装质量以及运输过程中损失等因素影响,SF6电气设备易发生泄漏问题,将造成多方面危害:SF6气体泄漏导致电气设备灭弧能力下降,威胁到SF6断路器安全运行;SF6气体泄漏需对电气设备补气至额定压力,此操作需对电气设备断电,操作过程复杂。因此,定期开展SF6气体泄漏检测工作成为日常电力行业运维的重要工作。
为不影响电气设备正常运行,目前主要采用SF6红外成像检漏仪对SF6电气设备开展带电定点检漏工作,因此,需定期对SF6红外成像检漏仪进行校验。当前采用单点标准泄漏源对SF6红外成像检漏仪校验,标准泄漏源流量由质量流量计控制,流量控制范围为0.06~0.2mL/min,SF6气体经注射针头流向环境来模拟现场点状泄漏。实际校验过程中发现环境温度低于10℃时,小流量SF6气体与空气对红外光吸收强度相近,SF6红外成像检漏仪无法检测到小流量SF6气体,且单点标准泄漏源校验SF6红外成像检漏仪工作效率较低,不能满足日常校验业务需求,因此,为克服环境温度对模拟小流量SF6气体泄漏的影响,提高现有校验仪器效率,急需一种新型SF6红外成像检漏仪校验技术。
发明内容
本发明的目的是提供一种能克服上述缺陷、不受环境温度影响、校验效率高的双通道式SF6红外成像检漏仪校验用平台。其技术方案为:
一种双通道式SF6红外成像检漏仪校验用平台,包括SF6气瓶、直线步进电机、气缸、设置保温层的缓冲罐和设置在气路中的电磁阀F1~F4,直线步进电机的输出端接气缸的活塞杆,其特征在于:气缸采用精密气缸;SF6气瓶的输出端分别经设有电磁阀F1和电磁阀F4的气路接缓冲罐的输入端、经设有电磁阀F1和电磁阀F2的气路接气缸的输出端,气缸的输出端还经设有电磁阀F3的气路接出气针头;缓冲罐上设有压力传感器和温度传感器,缓冲罐的上方设有多个带控制阀的气路,每个气路的末端设有一个直径在0.1~0.4mm的毛细微孔针头,每个毛细微孔针头的直径不等;在距离出气针头和毛细微孔针头5cm处设一50℃恒温板;压力传感器和毛细微孔针头孔径的组配关系为:其中:Q为气体泄漏量,r为毛细微孔针头孔径,P1为缓冲罐压力,Patm为大气压力,T为缓冲罐内热力学温度,M为SF6气体分子量。
所述的通道式SF6红外成像检漏仪校验用平台,SF6气瓶的输出气路上设有稳压阀。
本发明与现有技术相比,其优点在于:
1、该装置采用50℃恒温板作为背景热源,可有效避免较低环境温度对模拟小流量SF6气体泄漏的影响。
2、本专利采用出气针头和多个孔径不等的毛细微孔针头组成双通道式SF6红外成像检漏仪校验技术,便于控制流量,可有效提升校验效率,满足生产用校验需求。
3、本专利采用精密气缸、压力传感器和毛细微孔针头孔径相结合的定量方式精密控制SF6气体泄漏量Q数学模型(式1)模拟现场点状泄漏,比传统方式具有更高控制精度。
其中:Q为气体泄漏量,r为毛细微孔针头孔径,P1为缓冲罐压力,Patm为大气压力,T为缓冲罐内热力学温度,M为SF6气体分子量。
附图说明
图1是本发明实施例的结构示意图。
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